-
公开(公告)号:CN104102005A
公开(公告)日:2014-10-15
申请号:CN201410135075.0
申请日:2014-04-04
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B1/00167 , A61B1/00096 , G01N21/954 , G02B7/02 , G02B23/2476 , Y10T29/49826
Abstract: 本发明涉及气密地密封的检孔仪探测器顶端。一种用于检查区域的光学系统,包括光学壳体和容纳在光学壳体内的光学元件。光学壳体容纳一个或多个光学纤维。容纳在光学壳体内的光学元件使光集中到一个或多个光学纤维上。密封部件相对于光学壳体而密封光学元件。密封部件包括固化的玻璃熔块材料。在一个示例中,密封部件环形地设置在光学壳体与光学元件之间。还提供了形成光学系统的方法。