公开(公告)号：CN101357066A

公开(公告)日：2009-02-04

申请号：CN200810130209.4

申请日：2008-06-16

Applicant: 通用电气公司

Inventor： A·伊赫列夫 ,  F·赛义德

IPC: A61B6/03 ,  G01T1/20 ,  H05G1/02

CPC classification number: G01T1/2985 ,  H04N5/32

Abstract: 本发明公开了一种探测器阵列和系统，和用于CT探测器光学掩模。该掩模插在CT探测器的光电二极管阵列与闪烁体阵列之间。光学掩模沿着一个或多个轴延伸并有差别地吸收和/或反射从二极管阵列的光电二极管边缘的闪烁体发出的光，平铺芯片的边缘比芯片中心部分的吸收或反射少。通过选择性的吸收和/或反射，空间上改变从闪烁体到与相邻闪烁体相关联的光电二极管的可见光子迁移，部分地补偿了相邻光电二极管对/闪烁体单元间串扰信号的空间差。差分串扰的减小减少了描述受验者内部部分的重现数据的伪影，提高数据的诊断价值。

公开(公告)号：CN101882626A

公开(公告)日：2010-11-10

申请号：CN201010178129.3

申请日：2010-05-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： A·伊赫列夫 ,  李文 ,  J·A·考策尔

IPC: H01L27/144 ,  H01L31/08 ,  A61B6/03

CPC classification number: H01L27/14663 ,  G01T1/2018 ,  H01L27/14603 ,  H01L31/105 ,  H01L31/115

Abstract: 一种光电二极管元件(20)包括第一扩散类型的第一层以及第二层。第二层定义电荷收集区域(29)。电荷收集区域(29)包括第二扩散类型的活性区(32)以及无活性区(33)。活性区(32)围绕无活性区(33)。光电二极管元件(20)还包括第一层与第二层之间的本征半导体层。

公开(公告)号：CN101882626B

公开(公告)日：2015-10-07

申请号：CN201010178129.3

申请日：2010-05-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： A·伊赫列夫 ,  李文 ,  J·A·考策尔

IPC: H01L27/144 ,  H01L31/08 ,  A61B6/03

CPC classification number: H01L27/14663 ,  G01T1/2018 ,  H01L27/14603 ,  H01L31/105 ,  H01L31/115

Abstract: 一种光电二极管元件(20)包括第一扩散类型的第一层以及第二层。第二层定义电荷收集区域(29)。电荷收集区域(29)包括第二扩散类型的活性区(32)以及无活性区(33)。活性区(32)围绕无活性区(33)。光电二极管元件(20)还包括第一层与第二层之间的本征半导体层。

公开(公告)号：CN101357066B

公开(公告)日：2012-08-29

申请号：CN200810130209.4

申请日：2008-06-16

Applicant: 通用电气公司

Inventor： A·伊赫列夫 ,  F·赛义德

IPC: A61B6/03 ,  G01T1/20 ,  H05G1/02

CPC classification number: G01T1/2985 ,  H04N5/32

Abstract: 本发明公开了一种探测器阵列和系统，和用于CT探测器光学掩模。该掩模插在CT探测器的光电二极管阵列与闪烁体阵列之间。光学掩模沿着一个或多个轴延伸并有差别地吸收和/或反射从二极管阵列的光电二极管边缘的闪烁体发出的光，平铺芯片的边缘比芯片中心部分的吸收或反射少。通过选择性的吸收和/或反射，空间上改变从闪烁体到与相邻闪烁体相关联的光电二极管的可见光子迁移，部分地补偿了相邻光电二极管对/闪烁体单元间串扰信号的空间差。差分串扰的减小减少了描述受验者内部部分的重现数据的伪影，提高数据的诊断价值。

公开(公告)号：CN105764420B

公开(公告)日：2019-07-26

申请号：CN201480049153.3

申请日：2014-08-11

Applicant: 通用电气公司

Inventor： J·J·莱西 ,  A·伊赫列夫 ,  B·Z·巴布

IPC: A61B6/03 ,  A61B6/00 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01T7/005 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4233 ,  G01N23/046 ,  G01T1/16

Abstract: 公开了一种CT检测器模块，其包含模块框架和定位在模块框架上的多个可平铺的检测器传感器。可平铺检测器传感器的每一个包含检测器元素的阵列和安装结构，该安装结构直接地或间接地耦合到检测器元素以提供用于检测器传感器与模块框架的安装和对准。安装结构包含对准板，其通常与检测器元素的阵列相对地定位，其中对准板具有形成基准结构的对准销以将检测器传感器对准在模块框架上，以及一个或多个螺纹凸起部，其配置成在其中接收紧固件，紧固件将检测器传感器固定到模块框架。模块框架包含键控部件，其在检测器传感器安装在模块框架上时接收对准销，以便将检测器传感器对准在模块框架上。

公开(公告)号：CN105764420A

公开(公告)日：2016-07-13

申请号：CN201480049153.3

申请日：2014-08-11

Applicant: 通用电气公司

Inventor： J·J·莱西 ,  A·伊赫列夫 ,  B·Z·巴布

IPC: A61B6/03 ,  A61B6/00 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01T7/005 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4233 ,  G01N23/046 ,  G01T1/16

Abstract: 公开了一种CT检测器模块，其包含模块框架和定位在模块框架上的多个可平铺的检测器传感器。可平铺检测器传感器的每一个包含检测器元素的阵列和安装结构，该安装结构直接地或间接地耦合到检测器元素以提供用于检测器传感器与模块框架的安装和对准。安装结构包含对准板，其通常与检测器元素的阵列相对地定位，其中对准板具有形成基准结构的对准销以将检测器传感器对准在模块框架上，以及一个或多个螺纹凸起部，其配置成在其中接收紧固件，紧固件将检测器传感器固定到模块框架。模块框架包含键控部件，其在检测器传感器安装在模块框架上时接收对准销，以便将检测器传感器对准在模块框架上。