公开(公告)号：CN1524248A

公开(公告)日：2004-08-25

申请号：CN03800609.X

申请日：2003-04-15

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 布鲁诺·K·B·德曼 ,  萨米特·K·巴苏

IPC: G06T11/00

CPC classification number: G06T11/006 ,  G06T2211/424

Abstract: 公开了相对于像素/检测器格(bin)的投影与背投影光线的方法，以减轻/消除高频非正常信号(artifact)。前两个方法分别为像素驱动与光线驱动线性插值技术的适应。在这些技术中，每一像素/格的窗口或阴影被动态调整，并被投影到检测器格/像素上，以消除阴影之间的缝隙。这使在给定检测器格上的每一像素(或反之亦然)的效果能够被适当的加权。第三种方法为距离驱动技术，其中像素与检测器格的迁移被分别投影到共同的轴上。这允许用较短的计算时间与改善了正常的图像来确定每一像素/检测器格对每一检测器格/像素的作用。

公开(公告)号：CN100351871C

公开(公告)日：2007-11-28

申请号：CN03800609.X

申请日：2003-04-15

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 布鲁诺·K·B·德曼 ,  萨米特·K·巴苏

IPC: G06T11/00

CPC classification number: G06T11/006 ,  G06T2211/424

Abstract: 公开了相对于像素/检测器格(bin)的投影与背投影光线的方法，以减轻/消除高频非正常信号(artifact)。前两个方法分别为像素驱动与光线驱动线性插值技术的适应。在这些技术中，每一像素/格的窗口或阴影被动态调整，并被投影到检测器格/像素上，以消除阴影之间的缝隙。这使在给定检测器格上的每一像素(或反之亦然)的效果能够被适当的加权。第三种方法为距离驱动技术，其中像素与检测器格的迁移被分别投影到共同的轴上。这允许用较短的计算时间与改善了正常的图像来确定每一像素/检测器格对每一检测器格/像素的作用。

公开(公告)号：CN1520783A

公开(公告)日：2004-08-18

申请号：CN200410003207.0

申请日：2004-02-02

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 布鲁诺·K·B·德曼 ,  萨米特·K·巴苏

IPC: A61B6/03 ,  G06T1/00

CPC classification number: G06T11/006 ,  G06T11/008 ,  G06T2211/424

Abstract: 公开了一种关于体素/检测器空间对射线进行三维投影和背面投影，以衰减/消除高频人工因素的方法。公开了一种远距离驱动的技术，在该技术中体素和检测器空间的转换分别被投影到预定的平面上。这一投影允许确定每个体素/空间对每个空间/体素的作用，并具有较低的计算时间和改善的无人工产物的图像。