一种IGBT模块温度采样检测系统及误差优化方法

    公开(公告)号:CN113253084A

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202110463177.5

    申请日:2021-04-23

    Abstract: 本发明提供一种IGBT模块温度采样检测系统及误差优化方法,检测系统包括NTC采样电路、光耦隔离和FPGA。NTC采样电路包括由上至下串联的NTC电阻R1、电阻R2、电容C1,还包括555芯片,NTC电阻R1为IGBT模块内部的温度采样电阻,NTC电阻R1和电阻R2串联的中间点连接至555芯片的模拟信号输入端,电阻R2与电容C1串联的中间点连接至555芯片的充放电路的触发端,555芯片的输出端为NTC采样电路的输出端,连接光耦隔离的输入端,光耦隔离的输出端连接至FPGA芯片的输入。通过FPGA高速运行的特点,利用放电时电容值得误差比较算法,运用新的周期运算时间就可以的非常准确的IGBT温度,进而控制SVG设备的散热系统,保证SVG设备的可靠运行,能够提高IGBT模块的温度检测的精度。

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