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公开(公告)号：CN102788715B
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201210155472.5
申请日：2012-05-18
Applicant: 贺利氏电子耐特国际股份公司
Inventor： 宋立焕 , 赫里特·布勒克曼斯 , 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯 , 德里·拜恩斯
IPC: G01N1/10
CPC classification number: G01N1/125 , G01N33/206
Abstract: 本发明涉及从熔点高于600℃的熔融物，特别是金属或冰晶石熔融物中采样的采样装置，所述采样装置具有承载管，所述承载管具有浸入端和设置在所述承载管的浸入端上的样品室组件，所述样品室组件具有进入口和熔融物的样品腔，并且所述样品室组件至少部分地设置在所述承载管内部，其特征在于，所述样品室组件的设置在所述承载管内部的一部分外表面上具有用于连接承载杆的连接装置。另外，本发明还涉及利用这种采样装置采样的方法。
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公开(公告)号：CN105842320A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610149572.5
申请日：2016-03-16
Applicant: 贺利氏电子耐特国际股份公司
Inventor： 奥默·保罗·伊福·屈雷 , 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯
IPC: G01N27/411
CPC classification number: G01N27/4111 , G01N27/4115 , G01N27/4118
Abstract: 本发明公开一种浸入式测量传感器，其用于测量漂浮在熔池上的形成液态层的非金属材料的电化学活性，所述浸入式测量传感器包括：固体电解质电化学元件，所述电化学元件布置在带有对电极的保持器中，其中，当插入所述液态层时，由耐热材料构成的保护覆盖物布置在所述对电极上，而所述电化学元件没有保护层。
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公开(公告)号：CN107255573B
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN201710372128.4
申请日：2012-10-19
Applicant: 贺利氏电子耐特国际股份公司
Inventor： 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯 , 埃里克·B·博特尔斯 , 德里·拜恩斯
IPC: G01N1/04
Abstract: 本发明涉及一种在铁熔液或钢熔液中测量参数或取样，以及在位于铁熔液或钢熔液之上的炉渣中取样的装置，其带有具有浸入端以及侧面包围面的载体管，在该载体管的浸入端设置有具有浸入端以及侧面包围面的测量头，其中，在测量头的浸入端设有至少一个传感器和用于存在于装置内部的样品腔的流入口，还在于，在载体管或测量头的侧面包围面设有流入口，该流入口经流入通道通入设置在载体管或测量头的内部的前置腔，而且，前置腔在它的远离测量头浸入端的一端具有流入口，该流入口通入炉渣样品腔，该炉渣样品腔设置在装置内部的该前置腔的远离浸入端的一侧。
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公开(公告)号：CN105823572B
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201610032208.0
申请日：2016-01-18
Applicant: 贺利氏电子耐特国际股份公司
Inventor： 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯 , 米歇尔·泰斯 , 弗兰克·史蒂文斯
IPC: G01K11/32
CPC classification number: G01K11/32 , G01J5/004 , G01J5/0275 , G01J5/042 , G01J5/047 , G01J5/048 , G01J5/0821
Abstract: 本发明涉及一种使用光纤，优选地为涂覆金属的光纤，测量冶金容器中的温度的浸没装置。根据本发明的浸没装置包括进给通道和进给构件，用于进给光纤至一次性导管以及进给一次性导管连同光纤至熔体。浸没装置包括用于监测光纤一端相对于导管一端的位置的控制构件。已发现所述相对位置决定了温度测量的质量。因此，监测所述相对位置使得确定温度测量的质量、并因此改进温度测量变得有可能。
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公开(公告)号：CN105823572A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201610032208.0
申请日：2016-01-18
Applicant: 贺利氏电子耐特国际股份公司
Inventor： 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯 , 米歇尔·泰斯 , 弗兰克·史蒂文斯
IPC: G01K11/32
CPC classification number: G01K11/32 , G01J5/004 , G01J5/0275 , G01J5/042 , G01J5/047 , G01J5/048 , G01J5/0821
Abstract: 本发明涉及一种使用光纤，优选地为涂覆金属的光纤，测量冶金容器中的温度的浸没装置。根据本发明的浸没装置包括进给通道和进给构件，用于进给光纤至一次性导管以及进给一次性导管连同光纤至熔体。浸没装置包括用于监测光纤一端相对于导管一端的位置的控制构件。已发现所述相对位置决定了温度测量的质量。因此，监测所述相对位置使得确定温度测量的质量、并因此改进温度测量变得有可能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105136305B
公开(公告)日：2020-02-04
申请号：CN201510201403.7
申请日：2015-04-24
Applicant: 贺利氏电子耐特国际股份公司
Inventor： 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯 , 米歇尔·泰斯 , 弗兰克·史蒂文斯
Abstract: 本发明涉及一种用于测量熔体、特别是熔融金属的温度的装置，其包括光纤以及导管，所述导管具有浸入端以及与所述浸入端相反的第二端，所述光纤部分地布置在所述导管中，所述导管的内径大于所述光纤的外径，在所述导管的所述浸入端处或在所述导管内靠近所述导管的所述浸入端处布置第一塞，穿过所述第一塞进给所述光纤并且所述第一塞减小在所述光纤与所述导管之间的间隙。
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公开(公告)号：CN107209088B
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201580074205.7
申请日：2015-12-22
Applicant: 贺利氏电子耐特国际股份公司
Inventor： 德里·拜恩斯 , 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯
IPC: G01N1/12 , G01N33/205
Abstract: 一种落入式探头包含测量头部，所述测量头部具有浸入端和具有端面的相对的第二端。所述测量头部由被配置成沿着分型线配合在一起的第一和第二半主体形成。被布置在所述测量头部内的样品室与其冷却质量块热隔绝，并且包含具有2.5mm或更小厚度的金属壁。入口管具有到所述样品室的入口开口。所述入口开口具有直径Diniet，并且与所述测量头部的所述端面间隔至少公式(1)的距离。当所述样品室用熔融金属的样品填充时，所述金属样品的质量与所述样品室的所述金属壁的质量的比率大于2.6且小于6。
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公开(公告)号：CN105136305A
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201510201403.7
申请日：2015-04-24
Applicant: 贺利氏电子耐特国际股份公司
Inventor： 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯 , 米歇尔·泰斯 , 弗兰克·史蒂文斯
Abstract: 本发明涉及一种用于测量熔体、特别是熔融金属的温度的装置，其包括光纤以及导管，所述导管具有浸入端以及与所述浸入端相反的第二端，所述光纤部分地布置在所述导管中，所述导管的内径大于所述光纤的外径，在所述导管的所述浸入端处或在所述导管内靠近所述导管的所述浸入端处布置第一塞，穿过所述第一塞进给所述光纤并且所述第一塞减小在所述光纤与所述导管之间的间隙。
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公开(公告)号：CN104132750A
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201410125884.3
申请日：2014-03-31
Applicant: 贺利氏电子耐特国际股份公司
Inventor： 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯 , 米歇尔·泰斯 , 弗兰克·史蒂文斯
CPC classification number: G01J5/004 , B22D2/006 , G01J5/042 , G01J5/048 , G01J5/0821
Abstract: 本发明涉及利用光纤测量熔化物，尤其是熔融金属的温度的方法，光纤经由一次性引导管被馈送到熔化物中，光纤和一次性引导管的浸入端浸入熔化物中，二者具有彼此独立的馈送速度。本发明还涉及用于测量上述温度的装置和设备，包括光纤和一次性引导管，一次性引导管具有浸入端和相反的第二端，光纤部分地布置在一次性引导管中，一次性引导管的内径大于光纤的外径，在第二端处或一次性引导管内布置有弹性插塞，光纤被馈送通过弹性插塞，并且弹性插塞减小了光纤与一次性引导管之间的间隙。设备包括光纤卷和用于馈送光纤和一次性引导管的馈送机构，馈送机构包括至少两个独立的馈送电动机，一个电动机用于馈送光纤，一个电动机用于馈送一次性引导管。
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公开(公告)号：CN102788715A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201210155472.5
申请日：2012-05-18
Applicant: 贺利氏电子耐特国际股份公司
Inventor： 宋立焕 , 赫里特·布勒克曼斯 , 吉多·雅各布斯·奈叶恩斯 , 德里·拜恩斯
IPC: G01N1/10
CPC classification number: G01N1/125 , G01N33/206
Abstract: 本发明涉及从熔点高于600℃的熔融物，特别是金属或冰晶石熔融物中采样的采样装置，所述采样装置具有承载管，所述承载管具有浸入端和设置在所述承载管的浸入端上的样品室组件，所述样品室组件具有进入口和熔融物的样品腔，并且所述样品室组件至少部分地设置在所述承载管内部，其特征在于，所述样品室组件的设置在所述承载管内部的一部分外表面上具有用于连接承载杆的连接装置。另外，本发明还涉及利用这种采样装置采样的方法。
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