一种基于X射线成像的GIS设备缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN111079955A

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201911233804.5

    申请日:2019-12-05

    Abstract: 本发明公开了一种基于X射线成像的GIS设备缺陷检测方法,包括:S1、获取GIS设备图像;S2、对所述图像进行图像灰度化处理,获得灰度图像;S3、对所述灰度图像进行图像二值化处理,获得二值化图像;S4、对所述二值化图像进行去噪处理,获得去噪图像;S5、对所述去噪图像进行信息增强处理,获得增强图像;S6、对所述增强图像进行图像分割,提取出目标图像;S7、对所述目标图像进行特征提取,获得特征向量;S8、采用多类分类器,将所述特征向量作为输入,对所述特征向量进行识别。本发明将图像识别技术应用于GIS设备的缺陷检测中,代替巡检人员判别GIS设备是否存在缺陷,可以提高检测速度和准确率。

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