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发明公开
用于标识不可靠的光链路性能的测量的方法和装置审中-实审

公开(公告)号：CN118944749A

公开(公告)日：2024-11-12

申请号：CN202410567499.8

申请日：2024-05-09

Applicant: 诺基亚通信公司

Inventor： P·拉曼塔尼斯 , F·伯蒂尔 , C·德勒佐德 , P·拉耶克

IPC: H04B10/079

Abstract: 一种方法，包括：从光网络接收光信号的累积色散的估计、或所述累积色散的变化率，该估计指示在相干光接收器处对在对应的时间从光网络的光链路接收的光信号的测量；响应于恢复由所接收的光信号携带的数据，从光网络接收在相干光接收器处做出的光链路性能的测量；以及响应于确定该估计指示光信号的累积色散在对应于光链路性能的测量中的至少一项的时间附近以高于阈值速率变化，将光链路性能的测量中的所述至少一项标识为不可靠。

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