用于控制磁共振系统的方法

    公开(公告)号:CN103027679B

    公开(公告)日:2016-02-17

    申请号:CN201210359754.7

    申请日:2012-09-25

    CPC classification number: G01R33/583 G01R33/341

    Abstract: 本发明描述了一种用于控制磁共振系统(1)的方法,在该方法中在磁共振测量(MR)之前在测试阶段(TP)中利用发送天线装置(3)将具有多个并行的单独的高频脉冲的测试高频脉冲(TS)经过不同的高频发送通道(S1,…,SN)发送,所述测试高频脉冲在发送功率更小的情况下产生基本上与在后面的磁共振测量(MR)中要发送的激励高频脉冲(HFS)相同的场分布。在此在局部线圈装置(5)的至少一个范围中测量通过该测试高频脉冲(TS)产生的高频场并且基于测量的高频场来确定在后面的磁共振测量(MR)期间在局部线圈装置(5)上预计的高频场值(HFW)。在后面的磁共振测量(MR)期间在考虑该高频场值(HFW)的条件下进行磁共振系统(1)的控制。此外还描述了一种用于控制磁共振系统(1)的相应的控制装置(10)以及一种具有这样的控制装置(10)的磁共振系统(1)。

    用于控制磁共振系统的方法

    公开(公告)号:CN103027679A

    公开(公告)日:2013-04-10

    申请号:CN201210359754.7

    申请日:2012-09-25

    CPC classification number: G01R33/583 G01R33/341

    Abstract: 本发明描述了一种用于控制磁共振系统(1)的方法,在该方法中在磁共振测量(MR)之前在测试阶段(TP)中利用发送天线装置(3)将具有多个并行的单独的高频脉冲的测试高频脉冲(TS)经过不同的高频发送通道(S1,…,SN)发送,所述测试高频脉冲在发送功率更小的情况下产生基本上与在后面的磁共振测量(MR)中要发送的激励高频脉冲(HFS)相同的场分布。在此在局部线圈装置(5)的至少一个范围中测量通过该测试高频脉冲(TS)产生的高频场并且基于测量的高频场来确定在后面的磁共振测量(MR)期间在局部线圈装置(5)上预计的高频场值(HFW)。在后面的磁共振测量(MR)期间在考虑该高频场值(HFW)的条件下进行磁共振系统(1)的控制。此外还描述了一种用于控制磁共振系统(1)的相应的控制装置(10)以及一种具有这样的控制装置(10)的磁共振系统(1)。

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