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公开(公告)号：CN116258210A
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202211682377.0
申请日：2022-12-26
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了针对量子汉明码的容错测量方法，具体步骤为：步骤1、对待传输的信息比特进行编码，并生成量子汉明码的码字；步骤2、构造实现容错测量的序列；步骤3、使用步骤2中构造的容错测量序列对步骤1中量子汉明码的量子比特信息中每个码字进行辅助测量，若产生错误，则根据测量结果组成错误图样表；步骤4、根据步骤3中的错误图样表对测量的错误进行纠正，并将纠正后的量子信息比特交给下一级量子器件用于信息传输和量子计算；该方法对纠错过程中的测量序列进行构造，生成容错测量序列，克服了纠错过程中无法处理内部错误和器件错误，而导致错误累积和错误增加的问题，提高了量子汉明码的容错能力和测量抗干扰能力。
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