公开(公告)号：CN118861511A

公开(公告)日：2024-10-29

申请号：CN202410840726.X

申请日：2024-06-27

Applicant: 西安电子工程研究所

Inventor： 郑东卫 ,  白亚莉 ,  张刊 ,  王超 ,  岳佳

IPC: G06F18/10 ,  G06F17/18 ,  G01S13/62 ,  G01S3/14

Abstract: 本申请的实施例涉及电磁波角度测量技术领域，特别涉及一种用于电磁波角度测量的角度剔除滤波方法，包括：获取电磁波角度测量系统的测角范围和测角精度，基于所述测角精度，将所述测角范围量化为若干个量化区间，并赋予唯一的编号；基于所述测角精度，对电磁波角度测量系统在当前测量任务中测得的各测量角度进行量化，确定各测量角度落入的量化区间，并将各测量角度落入的量化区间的编号作为各测量角度对应的量化信息；基于量化信息，确定目标区间，获取落入目标区间的测量角度的个数，以及落入目标区间的各测量角度；计算落入目标区间的各测量角度的平均值作为最终测量角度。该方法有效提升了电磁波角度测量的稳定性和正确率。

公开(公告)号：CN112259953A

公开(公告)日：2021-01-22

申请号：CN202011116633.0

申请日：2020-10-19

Applicant: 西安电子工程研究所

Inventor： 张晨光 ,  程杰 ,  康颖 ,  李宏 ,  田江 ,  高坤 ,  张刊 ,  李玉宇 ,  闫兴锋 ,  张盛华

IPC: H01Q1/12

Abstract: 本发明涉及一种天线副反射面多自由度快速调节器，属于天线和机械技术领域。为了现有抛物面型天线调试时副反射面多自由度微调操作繁琐，以及无法实现任意调节量微调的问题。本发明包括垂直微调装置、角度微调装置、平面微调装置和天线副反射面；垂直微调装置置于角度微调装置内部，角度微调装置与平面微调装置滑动配合，天线副反射面与垂直微调装置螺纹配合。可满足抛物面型天线测试时对副反射面的多自由度调节需求；此外，该天线副反射面多自由度快速调节器利用球副，滑动副来实现天线副反射面各向调节，利用锁紧螺钉实现天线副反射面各向定位锁紧，使得微调操作更加便捷，并且可实现在调节范围内任意调节量的微调操作。

公开(公告)号：CN112259953B

公开(公告)日：2022-08-26

申请号：CN202011116633.0

申请日：2020-10-19

Applicant: 西安电子工程研究所

Inventor： 张晨光 ,  程杰 ,  康颖 ,  李宏 ,  田江 ,  高坤 ,  张刊 ,  李玉宇 ,  闫兴锋 ,  张盛华

IPC: H01Q1/12

Abstract: 本发明涉及一种天线副反射面多自由度快速调节器，属于天线和机械技术领域。为了现有抛物面型天线调试时副反射面多自由度微调操作繁琐，以及无法实现任意调节量微调的问题。本发明包括垂直微调装置、角度微调装置、平面微调装置和天线副反射面；垂直微调装置置于角度微调装置内部，角度微调装置与平面微调装置滑动配合，天线副反射面与垂直微调装置螺纹配合。可满足抛物面型天线测试时对副反射面的多自由度调节需求；此外，该天线副反射面多自由度快速调节器利用球副，滑动副来实现天线副反射面各向调节，利用锁紧螺钉实现天线副反射面各向定位锁紧，使得微调操作更加便捷，并且可实现在调节范围内任意调节量的微调操作。