公开(公告)号：CN112621279A

公开(公告)日：2021-04-09

申请号：CN202011246787.1

申请日：2020-11-10

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 苏军 ,  许小雷 ,  李军琪 ,  赵敏 ,  麦玉莹 ,  戈迎春

IPC: B23Q3/06

Abstract: 本发明公开了一种辅助支撑装置，特别适用于相对密闭空间薄壁件加工辅助支撑，底座侧面设有螺堵，下部设有加热器，上支撑座内设有弹簧、支柱、调整螺母，支柱穿过上支撑座及弹簧，用调整螺母联接，支柱的上端设有自调整支撑头，自调整支撑头内设有削扁的钢球，钢球偏摆9°，以适应被支撑表面，将上支撑座通过螺钉与底座联接，支柱台阶外圆与底座内孔配合，在下端形成一个密闭空间，用于存储低温合金材料，当自调整支撑头上受力时，支柱在底座内上下移动。使用时，给加热器通电，低温合金熔化成液态，零件装夹好后，停止加热，低温合金凝固成固态，锁死支柱。本发明安装在相对密闭的零件内部，保证了零件在加工时的内部支撑，支撑力大刚性好。

公开(公告)号：CN108827595B

公开(公告)日：2020-07-14

申请号：CN201810197931.3

申请日：2018-03-12

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 汪志斌 ,  张云龙 ,  张峰 ,  李军琪 ,  苏瑛 ,  赵敏 ,  麦玉莹

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于自适应理论光学系统加工误差的检测装置，采用点光源经扩束系统产生标准平面波，经透射被测光学系统，分光棱镜、移相器，以可变性反射镜作为反射波面，获取光学系统的干涉条纹，通过控制可变性反射镜的变形量获取均匀干涉条纹，则反射镜的变形量则为光学系统的系统加工误差。本发明的检测装置可以检测任意透射式光学系统，包含非球面、自由曲面等单个光学元件。本发明基于自适应理论采用干涉仪作为评判依据，通过移相器实现干涉条纹，采用可控变形反射镜的精确控制，调制出均匀的干涉条纹，采集反射镜的控制信息获取系统误差。本发明克服了以往光学系统无法测量系统加工误差的难点。

公开(公告)号：CN108827595A

公开(公告)日：2018-11-16

申请号：CN201810197931.3

申请日：2018-03-12

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 汪志斌 ,  张云龙 ,  张峰 ,  李军琪 ,  苏瑛 ,  赵敏 ,  麦玉莹

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于自适应理论光学系统加工误差的检测装置，采用点光源经扩束系统产生标准平面波，经透射被测光学系统，分光棱镜、移相器，以可变性反射镜作为反射波面，获取光学系统的干涉条纹，通过控制可变性反射镜的变形量获取均匀干涉条纹，则反射镜的变形量则为光学系统的系统加工误差。本发明的检测装置可以检测任意透射式光学系统，包含非球面、自由曲面等单个光学元件。本发明基于自适应理论采用干涉仪作为评判依据，通过移相器实现干涉条纹，采用可控变形反射镜的精确控制，调制出均匀的干涉条纹，采集反射镜的控制信息获取系统误差。本发明克服了以往光学系统无法测量系统加工误差的难点。