公开(公告)号：CN112985228B

公开(公告)日：2024-02-27

申请号：CN202110167053.2

申请日：2021-02-05

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 王芝 ,  蔡锦浩 ,  谢国兵 ,  付晓庆 ,  翁锴强 ,  张永宁 ,  黄玉 ,  张明 ,  韩俊 ,  王慧娜 ,  薛永刚 ,  冯攀 ,  马彰鑫

IPC: G01B5/06

Abstract: 形光学元件的中心厚度的高效、高精度测量。本发明公开了一种快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪，包括一端开设有60°顶角V型开口槽的角度板底板，待测透镜放置在V型开口槽；角度板底板上表面设有导轨，表头支架沿表头支架导轨往复滑动，表头支架上设有千分尺表头，表头支架往复滑动时，千分尺表头沿V型开口槽顶角平分线方向运动；角度板底板底部还设有测量尺，测量尺沿V型开口槽顶角平分线方向布置；表头支架和测量尺同方向运动，速度比为2:1；初始时，测量尺与表头支架均位于V型开口槽顶点位置，测量尺运动至接触待测透镜时，测量

公开(公告)号：CN113108811A

公开(公告)日：2021-07-13

申请号：CN202110378025.5

申请日：2021-04-08

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 翁锴强 ,  虎将 ,  冯攀 ,  马彰鑫 ,  张森 ,  罗怡 ,  蔡锦浩

IPC: G01C25/00

Abstract: 本发明公开了一种光电转塔跟踪精度自动分析计算装置，显示器与计算处理单元连接；外接控制器通过USB、串行接口或蓝牙与计算处理单元连接；计算处理单元包括视频输入接口模块、计算处理模块和数据存储模块；光电转塔视频图像输入接线连接光电转塔视频输出口和计算处理单元，由视频输入接口模块对光电转塔输出视频接入并统一转换成待处理的数字图像，并将其传递给计算处理模块；外接控制器将测试的光电转塔的视场角、图像分辨率参数输入给计算处理模块，控制计算处理模块的运行和停止，计算处理模块处理得到的结果送至数据存储模块进行存储。本发明适用范围广，可根据不同光电转塔的参数进行设置，适用于目前所有光电转塔的跟踪精度测试。

公开(公告)号：CN112897455A

公开(公告)日：2021-06-04

申请号：CN202110074713.2

申请日：2021-01-20

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 虎将 ,  翁锴强 ,  冯攀 ,  罗怡 ,  马彰鑫 ,  蔡锦浩 ,  谢国兵 ,  王芝 ,  张森 ,  张永宁 ,  刘杰

IPC: B81C1/00

Abstract: 本发明公开了一种基于ICP刻蚀的连续曲面三维微结构制备方法，包括以下步骤：制备母模具；制备PDMS软模具；制备掩膜层微结构；微结构刻蚀转移。本发明实现了硅基底/碳化硅基底上连续曲面微结构的一次成型制造，并且工艺性良好，适于大批量生产；通过调节抗蚀层和基底的刻蚀比例，可以实现连续曲面微结构按比例转移到基底上，转移后的微结构尺寸可控。

公开(公告)号：CN113108811B

公开(公告)日：2022-11-18

申请号：CN202110378025.5

申请日：2021-04-08

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 翁锴强 ,  虎将 ,  冯攀 ,  马彰鑫 ,  张森 ,  罗怡 ,  蔡锦浩

IPC: G01C25/00

Abstract: 本发明公开了一种光电转塔跟踪精度自动分析计算装置，显示器与计算处理单元连接；外接控制器通过USB、串行接口或蓝牙与计算处理单元连接；计算处理单元包括视频输入接口模块、计算处理模块和数据存储模块；光电转塔视频图像输入接线连接光电转塔视频输出口和计算处理单元，由视频输入接口模块对光电转塔输出视频接入并统一转换成待处理的数字图像，并将其传递给计算处理模块；外接控制器将测试的光电转塔的视场角、图像分辨率参数输入给计算处理模块，控制计算处理模块的运行和停止，计算处理模块处理得到的结果送至数据存储模块进行存储。本发明适用范围广，可根据不同光电转塔的参数进行设置，适用于目前所有光电转塔的跟踪精度测试。

公开(公告)号：CN112985228A

公开(公告)日：2021-06-18

申请号：CN202110167053.2

申请日：2021-02-05

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 王芝 ,  蔡锦浩 ,  谢国兵 ,  付晓庆 ,  翁锴强 ,  张永宁 ,  黄玉 ,  张明 ,  韩俊 ,  王慧娜 ,  薛永刚 ,  冯攀 ,  马彰鑫

IPC: G01B5/06

Abstract: 本发明公开了一种快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪，包括一端开设有60°顶角V型开口槽的角度板底板，待测透镜放置在V型开口槽；角度板底板上表面设有导轨，表头支架沿表头支架导轨往复滑动，表头支架上设有千分尺表头，表头支架往复滑动时，千分尺表头沿V型开口槽顶角平分线方向运动；角度板底板底部还设有测量尺，测量尺沿V型开口槽顶角平分线方向布置；表头支架和测量尺同方向运动，速度比为2:1；初始时，测量尺与表头支架均位于V型开口槽顶点位置，测量尺运动至接触待测透镜时，测量尺运动距离为待测透镜的半径r，此时表头支架上的千分尺表头运动距离为2r，位于待测透镜的中心上方。本发明能够适用于各种不同半径的圆形光学元件的中心厚度的高效、高精度测量。