一种三维解耦型扫描测头

    公开(公告)号:CN109373878B

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN201811452722.5

    申请日:2018-11-30

    IPC分类号: G01B7/00 G01B7/02

    摘要: 本发明涉及精密测量仪器技术领域,具体涉及一种三维解耦型扫描测头。本发明包括XY向测量机构、Z向测量机构、测头外壳、测杆、弹簧平衡机构,该测头通过三组相互垂直安装的膜片导向机构,构成X向、Y向、Z向运动导轨,且三个方向上分别安装有一个电感传感器用来测量测针在X、Y、Z三个方向的微位移。本发明的测头在三个方向上相互解耦,结构紧凑,体积小,测量精度高,灵敏度高,长期使用稳定性好,且可以实现一维、二维和三维扫描测量。

    一种三维解耦型扫描测头

    公开(公告)号:CN109373878A

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201811452722.5

    申请日:2018-11-30

    IPC分类号: G01B7/00 G01B7/02

    摘要: 本发明涉及精密测量仪器技术领域,具体涉及一种三维解耦型扫描测头。本发明包括XY向测量机构、Z向测量机构、测头外壳、测杆、弹簧平衡机构,该测头通过三组相互垂直安装的膜片导向机构,构成X向、Y向、Z向运动导轨,且三个方向上分别安装有一个电感传感器用来测量测针在X、Y、Z三个方向的微位移。本发明的测头在三个方向上相互解耦,结构紧凑,体积小,测量精度高,灵敏度高,长期使用稳定性好,且可以实现一维、二维和三维扫描测量。