公开(公告)号：CN119618089B

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202510161909.3

申请日：2025-02-14

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 解社娟 ,  郭威 ,  钟凯 ,  王铁军 ,  陈振茂 ,  陈洪恩 ,  江鹏 ,  张伟旭

IPC: G01B11/06 ,  G01B7/06 ,  G01N27/04

Abstract: 一种涡流‑激光‑液晶智能材料协同的热障涂层无损检测探头及方法，该检测探头包括涡流探头、激光测距探头和探头组合检测件固定装置；该方法对热障涂层陶瓷层厚度、介电常数与热障涂层下方金属基体性能进行综合无损评估。对热障涂层系统进行评估时，反演得到涡流探头至金属基体上表面之间的距离和涂层系统性能参数，借助液晶智能材料、激光测距探头测量激光测距探头与热障涂层陶瓷层上表面之间的距离以及激光测距探头与涡流探头的高度差，进而得到热障涂层陶瓷层厚度。本发明具备非接触、高精度和快速检测的特点，能够有效避免因探头与涂层表面之间的机械接触状态和表面粗糙度等不可控因素带来的机械测量误差，确保热障涂层和金属基体的精准评估。

公开(公告)号：CN119618089A

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202510161909.3

申请日：2025-02-14

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 解社娟 ,  郭威 ,  钟凯 ,  王铁军 ,  陈振茂 ,  陈洪恩 ,  江鹏 ,  张伟旭

IPC: G01B11/06 ,  G01B7/06 ,  G01N27/04

Abstract: 一种涡流‑激光‑液晶智能材料协同的热障涂层无损检测探头及方法，该检测探头包括涡流探头、激光测距探头和探头组合检测件固定装置；该方法对热障涂层陶瓷层厚度、介电常数与热障涂层下方金属基体性能进行综合无损评估。对热障涂层系统进行评估时，反演得到涡流探头至金属基体上表面之间的距离和涂层系统性能参数，借助液晶智能材料、激光测距探头测量激光测距探头与热障涂层陶瓷层上表面之间的距离以及激光测距探头与涡流探头的高度差，进而得到热障涂层陶瓷层厚度。本发明具备非接触、高精度和快速检测的特点，能够有效避免因探头与涂层表面之间的机械接触状态和表面粗糙度等不可控因素带来的机械测量误差，确保热障涂层和金属基体的精准评估。