公开(公告)号：CN119309897B

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN202411854693.0

申请日：2024-12-17

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 高瑞 ,  王建强 ,  卢晨阳 ,  施坦 ,  杨金学 ,  赵珀 ,  白得滹

IPC: G01N1/44 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明属于金属材料制备技术领域，具体涉及一种制备辐照后金属微纳力学样品的方法。包括以下步骤：提供一金属块体材料，对金属块体材料进行离子辐照，得到初始样品；将初始样品固定，对初始样品确定晶粒取向和取向晶粒进行标记，制样得到原始矩形薄片试样；对原始矩形薄片试样表面去除部分辐照层并进行修剪，得到相同晶粒取向下的辐照区和未辐照区，连续凹凸结构的垛口状粗胚；进行减薄，得到微纳力学样品。本发明在辐照后金属块体样品的同一晶粒内，获得相同取向的辐照和未辐照单晶原位力学样品，避免在多个样品中寻找同一取向辐照区域与未辐照区域，减少在不同区域采集数据造成的分析误差，从而实现高效率制备透射电镜下单晶原位力学样品。

公开(公告)号：CN119309897A

公开(公告)日：2025-01-14

申请号：CN202411854693.0

申请日：2024-12-17

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 高瑞 ,  王建强 ,  卢晨阳 ,  施坦 ,  杨金学 ,  赵珀 ,  白得滹

IPC: G01N1/44 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明属于金属材料制备技术领域，具体涉及一种制备辐照后金属微纳力学样品的方法。包括以下步骤：提供一金属块体材料，对金属块体材料进行离子辐照，得到初始样品；将初始样品固定，对初始样品确定晶粒取向和取向晶粒进行标记，制样得到原始矩形薄片试样；对原始矩形薄片试样表面去除部分辐照层并进行修剪，得到相同晶粒取向下的辐照区和未辐照区，连续凹凸结构的垛口状粗胚；进行减薄，得到微纳力学样品。本发明在辐照后金属块体样品的同一晶粒内，获得相同取向的辐照和未辐照单晶原位力学样品，避免在多个样品中寻找同一取向辐照区域与未辐照区域，减少在不同区域采集数据造成的分析误差，从而实现高效率制备透射电镜下单晶原位力学样品。