公开(公告)号：CN110231355B

公开(公告)日：2020-08-25

申请号：CN201910520529.9

申请日：2019-06-17

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 朱蕊花 ,  杨喜岗 ,  罗秀

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/2005

Abstract: 一种制备微米级金属粉末透射电镜薄膜样品的方法，包括以下步骤：(1)、将待检测粉末与单质锡粉混合；(2)、将步骤(1)制得的混合粉末置于干燥箱进行干燥脱氧，之后自然冷却至室温，真空封存；(3)、将步骤(2)制得的混合粉末热压烧结，卸压并自然冷却至室温，对混合粉末块材进行切割，获得初级透射样品，并减薄；(4)、将步骤(3)制得的样品按透射电镜薄膜样品要求放入离子减薄仪中进行最终减薄，直到样品中出现小孔，即得到观察微米级粉末组织结构的透射电镜薄膜样品；该方法制备的透射试样可以有效地解决粉末团聚的瓶颈，试样制备成功率极高，从而为不同微米粒度、不同种类的金属粉末材料制备透射电镜试样提供了一种新的制备方法。

公开(公告)号：CN110231355A

公开(公告)日：2019-09-13

申请号：CN201910520529.9

申请日：2019-06-17

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 朱蕊花 ,  杨喜岗 ,  罗秀

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/2005

Abstract: 一种制备微米级金属粉末透射电镜薄膜样品的方法，包括以下步骤：(1)、将待检测粉末与单质锡粉混合；(2)、将步骤(1)制得的混合粉末置于干燥箱进行干燥脱氧，之后自然冷却至室温，真空封存；(3)、将步骤(2)制得的混合粉末热压烧结，卸压并自然冷却至室温，对混合粉末块材进行切割，获得初级透射样品，并减薄；(4)、将步骤(3)制得的样品按透射电镜薄膜样品要求放入离子减薄仪中进行最终减薄，直到样品中出现小孔，即得到观察微米级粉末组织结构的透射电镜薄膜样品；该方法制备的透射试样可以有效地解决粉末团聚的瓶颈，试样制备成功率极高，从而为不同微米粒度、不同种类的金属粉末材料制备透射电镜试样提供了一种新的制备方法。