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公开(公告)号：CN116539203A
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310518824.7
申请日：2023-05-09
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01L5/00
Abstract: 本发明公开一种4J33可伐合金第二类残余应力的测试方法，涉及分析仪器及材料测试技术领域，包括：将退火态无应力试样以及预加等双轴已知应力的试样装入纳米压痕仪，以待测点为圆心，以2倍晶粒平均尺寸为半径，对进入标记圆内的晶粒进行纳米压痕实验，得到标记圆中每个晶粒内压入的所有压痕数据；分别对标记圆中每个晶粒内压入的所有压痕数据取平均值，得到标记圆中每个晶粒对应的压痕数据平均值；对标记圆中所有晶粒对应的压痕数据平均值加和后再求平均值，得到标记圆中所有晶粒对应的压痕数据平均值，将其代入残余应力的计算模型中，得到第二类残余应力。本发明可有效减小晶粒取向差异对纳米压痕法残余应力测试精度的影响。
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公开(公告)号：CN117629797A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311579754.2
申请日：2023-11-24
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种微米级微区应力的高精度高效率检测方法。对待测试的金属的样品进行表面打磨及抛光处理，对无应力的载荷位移曲线以及有应力的载荷位移曲线的加载段做功的差值进行计算，将其作为残余应力σz在纳米压入过程中的做功Wrs＝ΔU。将等双轴残余应力分解为球张量和偏张量，在考虑压头压入过程中接触面积和压头载荷随着压入深度而变化的情况下通过积分方法计算残余应力σz的做功ΔW。然后令ΔU＝ΔW，则可以计算得到测试位置处的残余应力σz。从而得到测试位置处的σx，σy的数值。本发明残余应力的测量精度大大提高，同时测试过程非常简便。
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公开(公告)号：CN119375071A
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202411293387.4
申请日：2024-09-14
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 一种基于压痕裂纹的95％氧化铝残余应力计算方法，该方法中，确定95％氧化铝的测试区域及其测点位置，所述测试区域覆盖多个晶粒；在测点位置进行维氏压痕实验；获取测试区域内的压痕裂纹，对压痕裂纹做出统计，其中，测量所有在压痕尖端附近开裂的压痕裂纹，通过裂纹长度l与压痕半径a的大小关系对裂纹进行分类，依据为l＜1.5a时，为Palmqvist裂纹，反之为Radial‑median裂纹，计算Palmqvist裂纹在水平方向和竖直方向的投影长度；基于Palmqvist裂纹的投影长度与残余应力之间的计算模型获得95％Al2O3的残余应力。
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公开(公告)号：CN117629796A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311578047.1
申请日：2023-11-24
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 微米级狭小焊缝残余应力的准原位纳米压痕法测试技术，具体是采用先进的聚焦离子束(FIB)切槽法实现微区应力释放、从而实现无应力区的制备，然后在同一位置附近完成有应力状态和无应力状态的纳米压痕实验，实现了有应力状态载荷位移曲线和无应力状态载荷位移曲线的的准原位测得；对比相同位置的有应力、无应力两种状态下的载荷位移曲线，通过二者载荷位移曲线的差异计算塑性功，引入塑性功对现有能量法模型进行改进，进而来计算残余应力；采用能量法模型进行计算时，针对接头的非等双轴应力状态引入有限元计算确定的应力比k，适用于非等双轴应力状态的残余应力测试。
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公开(公告)号：CN116698643A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310215159.4
申请日：2023-03-07
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 公开了一种基于纳米压痕形貌表征提高残余应力预测精度的方法，方法中，获得目标测试区域进行压入试验前后的基于原位成像方法SPM的原位成像形貌表征，以压入后的原位成像形貌表征中纳米压痕覆盖区域为压痕窗口，根据压痕窗口尺寸对压入前的原位成像形貌表征进行背景扣除参考窗口标定，移动背景扣除参考窗口位置，对比背景扣除参考窗口与压痕窗口的形貌差异，确定压入前的原位成像形貌表征中背景扣除参考窗口的最佳位置，对压痕窗口与背景扣除参考窗口进行合成计算获取纳米压痕形貌表征结果；基于纳米压痕形貌表征结果对纳米压痕进行三维形貌分析获取压痕投影面积、堆积高度以及堆积宽度以用于残余应力预测计算。
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