公开(公告)号：CN113485245A

公开(公告)日：2021-10-08

申请号：CN202110758550.X

申请日：2021-07-05

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 吕盾 ,  宋彦宏 ,  刘辉 ,  赵万华

IPC: G05B19/408

Abstract: 一种三轴数控加工G代码缺陷坐标的粗精分步筛选方法，首先要对G代码文件进行坐标数值提取，进行基于几何特征求解的粗筛选过程，计算曲率、弓高、拐角、线段长度、相邻线段差等几何特征，并对求解结果进行排序，选取曲率、弓高、拐角及线段差的极大值的前10％的坐标位置，线段长的极小值的前10％的坐标位置，形成粗筛选结果；根据粗筛选结果利用三次样条插值对粗筛选缺陷坐标点构建趋势轨迹，基于该轨迹求解粗筛选嫌疑坐标对应的理想坐标点，并求出理想坐标点到粗筛选缺陷坐标点的误差，通过箱型图的方式找到误差值异常大的坐标位置，作为精筛选结果，完成精筛选过程；本发明避免筛选出正确坐标，实现G代码缺陷坐标位置的智能诊断。

公开(公告)号：CN113485245B

公开(公告)日：2022-08-05

申请号：CN202110758550.X

申请日：2021-07-05

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 吕盾 ,  宋彦宏 ,  刘辉 ,  赵万华

IPC: G05B19/408

Abstract: 一种三轴数控加工G代码缺陷坐标的粗精分步筛选方法，首先要对G代码文件进行坐标数值提取，进行基于几何特征求解的粗筛选过程，计算曲率、弓高、拐角、线段长度、相邻线段差等几何特征，并对求解结果进行排序，选取曲率、弓高、拐角及线段差的极大值的前10％的坐标位置，线段长的极小值的前10％的坐标位置，形成粗筛选结果；根据粗筛选结果利用三次样条插值对粗筛选缺陷坐标点构建趋势轨迹，基于该轨迹求解粗筛选嫌疑坐标对应的理想坐标点，并求出理想坐标点到粗筛选缺陷坐标点的误差，通过箱型图的方式找到误差值异常大的坐标位置，作为精筛选结果，完成精筛选过程；本发明避免筛选出正确坐标，实现G代码缺陷坐标位置的智能诊断。