一种远场超分辨双焦点生成方法及系统

    公开(公告)号:CN119535810A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411874513.5

    申请日:2024-12-19

    Abstract: 本申请公开了一种远场超分辨双焦点生成方法及系统,涉及远场超分辨聚焦应用技术领域,该方法包括获取入射光场,基于角谱衍射理论和二进制粒子群优化算法对不同焦距的超振荡掩膜二值相位调控进行优化,对得到的不同焦距单焦点聚焦调控相位分布进行布尔逻辑“与”运算,得到远场超分辨双焦点聚焦超振荡掩膜二值相位分布,根据其与空间光调制器载入图片的像素点灰度值的映射关系,生成超振荡掩膜,得到对应的灰度图;利用灰度图对入射光场进行相位调制,得到聚焦光场以及聚焦光场的三维强度分布。本申请通过布尔逻辑“与”运算将多个单焦点聚焦调控相位转化为双焦点聚焦调控相位,能够使产生的双焦点突破衍射极限,并且结构简单,便于使用与操作。

    一种透反射式太赫兹测量系统及方法

    公开(公告)号:CN115791688B

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN202211615939.X

    申请日:2022-12-15

    Abstract: 本发明公开了一种透反射式太赫兹测量系统及方法,涉及太赫兹光谱测量领域;具体地,一种透反射式太赫兹测量系统包括:太赫兹辐射源,太赫兹分束器,反射式样品台,透射式样品台,太赫兹探测器;其中,太赫兹辐射源发射太赫兹脉冲,太赫兹分束器对所述太赫兹脉冲进行透射得到第一透射脉冲或进行反射得到第一反射脉冲;所述第一透射脉冲在所述待测反射样品表面发生反射得到第二反射脉冲;所述第二反射脉冲经所述太赫兹分束器反射得到第三反射脉冲;所述太赫兹分束器顺时针调节90度,所述第一反射脉冲透射过所述透射式样品台得到第二透射脉冲;太赫兹探测器接收第三反射脉冲或第二透射脉冲,通过切换透射、反射两种模式实现对不同待测样品的检测。

    一种材料的超声纵波声速检测方法

    公开(公告)号:CN119291037A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202411465705.0

    申请日:2024-10-21

    Abstract: 本申请公开了一种材料的超声纵波声速检测方法,该方法采用液浸超声脉冲回波法,获取材料的原始信号;对原始信号进行降采样处理和小波变换处理,定位一次表面反射波的时域位置;根据材料厚度和参考声速,确定一次底波和所述二次底波之间的参考的渡越时间;根据参考的渡越时间和所述一次表面反射波的时域位置,确定一次底波的第一时域位置和二次底波的第二时域位置;基于数字相关法、第一时域位置和第二时域位置,确定一次底波和二次底波之间实际的渡越时间;根据实际的渡越时间和材料厚度,确定超声纵波在材料中的超声纵波声速。能够快速自动无损检测大尺寸超低膨胀石英玻璃或锂铝硅系微晶玻璃的超声纵波声速。

    一种激光加工光路的校正工具及方法

    公开(公告)号:CN117415447A

    公开(公告)日:2024-01-19

    申请号:CN202311612732.1

    申请日:2023-11-27

    Abstract: 本发明公开一种激光加工光路的校正工具及方法,属于激光加工技术领域。所述校正工具包括:第一线性导轨组、第二线性导轨组和打点对光治具;第一线性导轨组中的线性导轨与第二线性导轨组中的线性导轨垂直设置;第一线性导轨组中的各个线性导轨相互平行设置;第二线性导轨组中的各个线性导轨相互平行设置;打点对光治具搭载在第一线性导轨组和第二线性导轨组中的线性导轨上。本发明实施例通过线性导轨搭载打点对光治具实现激光加工光路中各个器件的校正,简化了校正工具的结构,便于现场维护。

    一种集成式太赫兹时域光谱系统
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116952889A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310800744.0

    申请日:2023-07-03

    Abstract: 本发明公开一种集成式太赫兹时域光谱系统,涉及太赫兹时域光谱系统领域,系统包括飞秒激光发射装置分别与太赫兹泵浦发射装置和太赫兹延时探测装置连接;赫兹泵浦发射装置和太赫兹延时探测装置均与太赫兹光路集成模块连接;样品测量装置设置在太赫兹光路集成模块中;样品信号处理装置与太赫兹延时探测装置连接;太赫兹光路集成模块包括透射式太赫兹光路集成模块、反射式太赫兹光路集成模块和衰减全反射式太赫兹光路集成模块;太赫兹光路集成模块用于将太赫兹波传输至样品处并获取样品信息;样品信号处理模块用于根据太赫兹延时探测装置传输的时域信号计算样品的光学参数。本发明能实现准确、高效地获取样品的光学参数。

    基于太赫兹时域衰减全反射法溶剂水含量检测系统及方法

    公开(公告)号:CN116380834A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202310039016.2

    申请日:2023-01-13

    Abstract: 本发明公开了基于太赫兹时域衰减全反射法溶剂水含量检测系统及方法,涉及太赫兹时域光谱技术对溶剂水含量的在线检测领域,该系统包括太赫兹时域检测装置用于向ATR传感器模块发射太赫兹信号,接收从ATR传感器模块射出的太赫兹全反射信号,将太赫兹全反射信号传输给数据处理终端;第一ATR传感器模块用于接收待检测样品溶剂并利用待检测样品溶剂对太赫兹信号进行全反射;第二ATR传感器模块用于利用标准样品溶剂对太赫兹信号进行全反射;样品溶剂在线取液装置用于控制待检测样品溶剂流经第一ATR传感器模块;数据处理终端用于根据太赫兹全反射信号计算待检测样品溶剂的含水量。本发明能够对溶剂的水含量进行在线无损检测。

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