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公开(公告)号:CN115266644A
公开(公告)日:2022-11-01
申请号:CN202210867937.3
申请日:2022-07-22
Applicant: 西南科技大学
Abstract: 本发明公开了基于单点探测的低温红外材料折射率测量装置及测量方法,涉及光学测量技术领域,其技术方案要点是:包括:红外光源组件,输出红外光;旋转台,置于真空恒温器中,并调整测试棱镜的旋转角度;分光镜,红外光穿过分光镜后传输至测试棱镜,且分光镜对经测试棱镜背面反射膜反射后原路返回的光线反射输出;瞄准装置,通过单点探测器获取随测试棱镜的旋转角度变化的信号幅值;处理器,用于依据信号幅值和旋转台的旋转角度,以加权平均方法计算得到测试棱镜在调整旋转角度后的偏向角度,并根据偏向角度确定当前温度下的折射率。本发明无需自准直光管进行对照处理,测量过程的光路相对简单,测量精度和效果较高,应用成本较低。
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公开(公告)号:CN115266644B
公开(公告)日:2025-02-25
申请号:CN202210867937.3
申请日:2022-07-22
Applicant: 西南科技大学
Abstract: 本发明公开了基于单点探测的低温红外材料折射率测量装置及测量方法,涉及光学测量技术领域,其技术方案要点是:包括:红外光源组件,输出红外光;旋转台,置于真空恒温器中,并调整测试棱镜的旋转角度;分光镜,红外光穿过分光镜后传输至测试棱镜,且分光镜对经测试棱镜背面反射膜反射后原路返回的光线反射输出;瞄准装置,通过单点探测器获取随测试棱镜的旋转角度变化的信号幅值;处理器,用于依据信号幅值和旋转台的旋转角度,以加权平均方法计算得到测试棱镜在调整旋转角度后的偏向角度,并根据偏向角度确定当前温度下的折射率。本发明无需自准直光管进行对照处理,测量过程的光路相对简单,测量精度和效果较高,应用成本较低。
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