公开(公告)号：CN117633423B

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202410111155.6

申请日：2024-01-26

Applicant: 苏州简测科技有限公司

Inventor： 曾繁添 ,  陈敏 ,  柏钦庆 ,  陈鑫 ,  张悦

IPC: G06F17/15 ,  G01J3/28 ,  G01N21/25 ,  G06F17/13

Abstract: 本发明提出了一种自适应光谱去基线方法，通过以原始光谱数据S[i]附近最小值为基点，通过原始光谱数据一阶微分ΔS[i]判断出可能的特征峰位置并在这些位置进行线性插值，以此为基础趋近原始光谱数据S[i]的基线。该方法能够保证除去基线后的光谱数值均大于零，并且通过调整算法中参数适应不同类型的光谱。

公开(公告)号：CN117633423A

公开(公告)日：2024-03-01

申请号：CN202410111155.6

申请日：2024-01-26

Applicant: 苏州简测科技有限公司

Inventor： 曾繁添 ,  陈敏 ,  柏钦庆 ,  陈鑫 ,  张悦

IPC: G06F17/15 ,  G01J3/28 ,  G01N21/25 ,  G06F17/13

Abstract: 本发明提出了一种自适应光谱去基线算法，通过以原始光谱数据S[i]附近最小值为基点，通过原始光谱数据一阶微分ΔS[i]判断出可能的特征峰位置并在这些位置进行线性插值，以此为基础趋近原始光谱数据S[i]的基线。该算法能够保证除去基线后的光谱数值均大于零，并且通过调整算法中参数适应不同类型的光谱。