-
公开(公告)号：CN113438022A
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN202110886709.6
申请日：2021-08-03
Applicant: 苏州大学
IPC: H04B10/079 , H04B10/50 , H04B10/54 , H04B10/548
Abstract: 本申请提供一种微波源相位噪声测量装置及方法。该方法包括：基于微波功分器将待测微波信号分成两路，其中一路经电移相器移相后传输至第一电光强度调制器，另一路射频信号直接至第二电光强度调制器，偏振复用平行光调制器接收并正交偏振复用后，输出一个偏振复用光信号，并通过调节第一偏振控制器，使得偏振复用光信号能被偏振分束器光完全分开，x偏振态的光进入上支路，y偏振态的光进入下支路，通过调节第二偏振控制器与第三偏振控制器，使上下两支路光的偏振态再次正交，并在第二偏振合束器中合束，合束后的信号通过光带通滤波器、检偏器、光电探测器，光电探测器输出的信号被引入到快速傅里叶变换分析仪中可得到被测微波信号的相位噪声。
-
公开(公告)号：CN115801120A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211432362.9
申请日：2022-11-15
Applicant: 苏州大学
IPC: H04B10/079 , H04B10/516
Abstract: 本发明涉及一种微波源相位噪声测量装置，包括电功分器、电吸收调制激光器、单模光纤、可调光纤延时线、电环形器、电吸收调制器、光环形器、光纤布拉格光栅与信号分析装置。本发明利用电吸收调制激光器代替激光器与调制器，简化了装置结构，降低了装置成本；利用电吸收调制器实现全光域混频功能与光电转换，避免了电混频器的使用，拓展了测量带宽，避免了光电探测器、电放大器等有源器件对测量系统噪底的影响，提升了测量灵敏度；利用光纤布拉格光栅实现窄带滤波，避免光带通滤波器的使用，降低了装置损耗。本发明提供的微波源相位噪声测量装置结构简单、成本低廉、工作带宽大、响应平坦，降低了相位噪声测量系统噪底，提高了测量精度与灵敏度。
-
公开(公告)号：CN114095083B
公开(公告)日：2022-04-05
申请号：CN202210065149.2
申请日：2022-01-20
Applicant: 苏州大学
IPC: H04B10/079 , H04B10/50 , H04B10/54 , H04B10/70
Abstract: 本发明公开了一种基于微波光子载波抑制的微波源相位噪声测量系统，其包括：激光器、第一电光强度调制器、光纤耦合器、单模光纤、可调光衰减器、第一可调光延时线、第二可调光延时线、平衡光电探测器、放大器、第二电光强度调制器、光电探测器和信号分析装置。本发明无需使用电移相器、电混频器与电耦合器等电子器件，本发明的相位噪声测量系统具有工作带宽大和响应平坦的优点；无需使用高性能、低相噪的参考信号源，避免了参考源对测量系统带宽、噪底的限制；通过载波抑制技术，使得待测噪声获得较大的增益，从而提升测量灵敏度；抑制了放大器的附加相位噪声和激光器、光纤引入的相对强度噪声，从而降低相位噪声测量系统的噪底。
-
公开(公告)号：CN113541789A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202111053545.5
申请日：2021-09-09
Applicant: 苏州大学
IPC: H04B10/079 , H04B10/548
Abstract: 本发明公开了一种基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置，其包括：微波功分器、激光器、光环行器、第一支路、第二支路、光耦合器、光电探测器和信号分析装置，第一支路中依次设置有双向光相位调制器、第一光纤布拉格光栅、单模光纤，第二支路中依次设置有第二光纤布拉格光栅和可调光延时线，光环行器设置有三个端口，三个端口分别与激光器、双向光相位调制器、第二光纤布拉格光栅连接。本发明利用单个双向光相位调制器实现全光域混频功能，避免了电混频器的使用，减少了微波放大器等有源器件的使用。具有结构简单，成本低廉，工作带宽大，响应平坦的优点，降低了相位噪声测量系统噪底，提高了测量精度与灵敏度。
-
公开(公告)号：CN113175999A
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN202110449061.6
申请日：2021-04-25
Applicant: 苏州大学
IPC: G01J9/00
Abstract: 本申请提出基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法及装置，该装置包括：垂直腔面激光器、用于产生所需的光载波信号，第一功分器用于将被测微波源发出的信号分成两路，一路送至第二功分器，经第二功分器分成2路，其中的一路经移相、混频器后通过低通滤波器A滤波，另一路送至第三功分器，经第三功分器分成2路，其中的一路经移相、混频器后通过低通滤波器B滤波，第二功分器及第三功分器分成另一路分别进入双偏振强度调制器，经偏振分束后的x偏振态的光经光电探测器A、y偏振态的光进入经光电探测器B，然后分别经放大器放大后的信号作为射频信号输入对应的混频器中，混频器输出端连接对应的低通滤波器滤除高频信号，低通滤波器A、低通滤波器B输出的信号输入信号分析仪中，经计算可得到被测微波源的相位噪声。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113175999B
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202110449061.6
申请日：2021-04-25
Applicant: 苏州大学
IPC: G01J9/00
Abstract: 本申请提出基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法及装置，该装置包括：垂直腔面激光器、用于产生所需的光载波信号，第一功分器用于将被测微波源发出的信号分成两路，一路送至第二功分器，经第二功分器分成2路，其中的一路经移相、混频器后通过低通滤波器A滤波，另一路送至第三功分器，经第三功分器分成2路，其中的一路经移相、混频器后通过低通滤波器B滤波，第二功分器及第三功分器分成另一路分别进入双偏振强度调制器，经偏振分束后的x偏振态的光经光电探测器A、y偏振态的光进入经光电探测器B，然后分别经放大器放大后的信号作为射频信号输入对应的混频器中，混频器输出端连接对应的低通滤波器滤除高频信号，低通滤波器A、低通滤波器B输出的信号输入信号分析仪中，经计算可得到被测微波源的相位噪声。
-
公开(公告)号：CN113438022B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202110886709.6
申请日：2021-08-03
Applicant: 苏州大学
IPC: H04B10/079 , H04B10/50 , H04B10/54 , H04B10/548
Abstract: 本申请提供一种微波源相位噪声测量装置及方法。该方法包括：基于微波功分器将待测微波信号分成两路，其中一路经电移相器移相后传输至第一电光强度调制器，另一路射频信号直接至第二电光强度调制器，偏振复用平行光调制器接收并正交偏振复用后，输出一个偏振复用光信号，并通过调节第一偏振控制器，使得偏振复用光信号能被偏振分束器光完全分开，x偏振态的光进入上支路，y偏振态的光进入下支路，通过调节第二偏振控制器与第三偏振控制器，使上下两支路光的偏振态再次正交，并在第二偏振合束器中合束，合束后的信号通过光带通滤波器、检偏器、光电探测器，光电探测器输出的信号被引入到快速傅里叶变换分析仪中可得到被测微波信号的相位噪声。
-
公开(公告)号：CN115801120B
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN202211432362.9
申请日：2022-11-15
Applicant: 苏州大学
IPC: H04B10/079 , H04B10/516
Abstract: 本发明涉及一种微波源相位噪声测量装置，包括电功分器、电吸收调制激光器、单模光纤、可调光纤延时线、电环形器、电吸收调制器、光环形器、光纤布拉格光栅与信号分析装置。本发明利用电吸收调制激光器代替激光器与调制器，简化了装置结构，降低了装置成本；利用电吸收调制器实现全光域混频功能与光电转换，避免了电混频器的使用，拓展了测量带宽，避免了光电探测器、电放大器等有源器件对测量系统噪底的影响，提升了测量灵敏度；利用光纤布拉格光栅实现窄带滤波，避免光带通滤波器的使用，降低了装置损耗。本发明提供的微波源相位噪声测量装置结构简单、成本低廉、工作带宽大、响应平坦，降低了相位噪声测量系统噪底，提高了测量精度与灵敏度。
-
公开(公告)号：CN115714620A
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202211405432.1
申请日：2022-11-10
Applicant: 苏州大学
IPC: H04B10/079 , H04B10/548 , H04B10/69 , H04B10/70
Abstract: 本发明公开了一种宽带微波光子相位噪声测量装置及方法，其包括：激光器、电光强度调制器、多个光纤耦合器、单模光纤、可调谐激光器、第一可调光纤延时线、第二可调光纤延时线、第一光电探测器、第二光电探测器、第一滤波器、第二滤波器、第一放大器、第二放大器、双平衡混频器、低通滤波器和信号分析仪。利用光外差技术将高频的待测微波信号下变频为低频电信号，在电域实现滤波，从而避免了电混频器、电滤波器、电放大器和光滤波器等器件对系统测量频率的限制，拓展了相噪测量系统的工作带宽；通过匹配第一支路与第二支路的延时，抑制了本振光源噪声对相噪测量系统噪声基底的影响，从而提升系统的相噪测量灵敏度。
-
公开(公告)号：CN114095083A
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202210065149.2
申请日：2022-01-20
Applicant: 苏州大学
IPC: H04B10/079 , H04B10/50 , H04B10/54 , H04B10/70
Abstract: 本发明公开了一种基于微波光子载波抑制的微波源相位噪声测量系统，其包括：激光器、第一电光强度调制器、光纤耦合器、单模光纤、可调光衰减器、第一可调光延时线、第二可调光延时线、平衡光电探测器、放大器、第二电光强度调制器、光电探测器和信号分析装置。本发明无需使用电移相器、电混频器与电耦合器等电子器件，本发明的相位噪声测量系统具有工作带宽大和响应平坦的优点；无需使用高性能、低相噪的参考信号源，避免了参考源对测量系统带宽、噪底的限制；通过载波抑制技术，使得待测噪声获得较大的增益，从而提升测量灵敏度；抑制了放大器的附加相位噪声和激光器、光纤引入的相对强度噪声，从而降低相位噪声测量系统的噪底。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
13
records
(took 0.013 seconds)
