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公开(公告)号：CN115356000B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202210969399.9
申请日：2022-08-12
Applicant: 苏州大学
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种部分相干贝塞尔高斯涡旋光束拓扑荷测量方法，包括：获取部分相干贝塞尔‑高斯涡旋光束，基于部分相干贝塞尔‑高斯涡旋光束，获得未加入摄动聚焦后光束的第一光强，在所需平面上的部分相干贝塞尔‑高斯涡旋光束分别添加位置相同，摄动不同的第二摄动点和第三摄动点，获得聚焦后光束的第二光强和第三光强，将所述第一光强分别与所述第二光强和所述第三光强作差后，通过逆傅里叶变换得交叉谱密度函数，利用所述交叉谱密度函数得交叉谱密度相位图，测量出部分相干贝塞尔高斯涡旋光束拓扑荷数和所述拓扑荷数正负性，实现了应用于低相干度光束的拓扑荷测量，且其测量准确度不随相干度变化而变化，解决了无法测量拓扑荷数正负的缺点。
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公开(公告)号：CN114910179A
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202210482596.8
申请日：2022-05-05
Applicant: 苏州大学
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种测量被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束拓扑荷的方法，包括：记录被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束在焦平面的光强；在被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束的离轴且未遮挡区域引入三次不同相位赋值的扰动；对扰动后的部分相干涡旋光束进行傅里叶变换，并记录三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强；根据三次不同相位赋值和三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强，通过反傅里叶变换得到被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束的交叉谱密度函数；根据交叉谱密度函数绘出相位分布图，得到被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束的拓扑荷的大小和符号。本发明可以在不规则障碍物遮挡下，同时准确测量被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束拓扑荷的大小和符号。
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公开(公告)号：CN114910179B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202210482596.8
申请日：2022-05-05
Applicant: 苏州大学
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种测量被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束拓扑荷的方法，包括：记录被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束在焦平面的光强；在被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束的离轴且未遮挡区域引入三次不同相位赋值的扰动；对扰动后的部分相干涡旋光束进行傅里叶变换，并记录三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强；根据三次不同相位赋值和三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强，通过反傅里叶变换得到被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束的交叉谱密度函数；根据交叉谱密度函数绘出相位分布图，得到被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束的拓扑荷的大小和符号。本发明可以在不规则障碍物遮挡下，同时准确测量被障碍物遮挡的部分相干涡旋光束拓扑荷的大小和符号。
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公开(公告)号：CN115356000A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202210969399.9
申请日：2022-08-12
Applicant: 苏州大学
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种部分相干贝塞尔高斯涡旋光束拓扑荷测量方法，包括：获取部分相干贝塞尔‑高斯涡旋光束，基于部分相干贝塞尔‑高斯涡旋光束，获得未加入摄动聚焦后光束的第一光强，在所需平面上的部分相干贝塞尔‑高斯涡旋光束分别添加位置相同，摄动不同的第二摄动点和第三摄动点，获得聚焦后光束的第二光强和第三光强，将所述第一光强分别与所述第二光强和所述第三光强作差后，通过逆傅里叶变换得交叉谱密度函数，利用所述交叉谱密度函数得交叉谱密度相位图，测量出部分相干贝塞尔高斯涡旋光束拓扑荷数和所述拓扑荷数正负性，实现了应用于低相干度光束的拓扑荷测量，且其测量准确度不随相干度变化而变化，解决了无法测量拓扑荷数正负的缺点。
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