一种色散型光谱成像系统光谱性能的测试方法

    公开(公告)号:CN115752724A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211348273.6

    申请日:2022-10-31

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明涉及一种色散型光谱成像系统光谱性能的测试方法,采用一维小孔阵列作为测试靶标,通过双远心中继系统成像至入射狭缝;以激光频率梳为光源,通过旋转积分球均匀照明测试靶标;利用安装在被测光谱成像系统像面上的面阵探测器成像,得到用于光谱性能测试的靶标弥散斑图像结果,通过测量各个光斑的质心位置,得到被测光谱成像系统的谱线弯曲和色畸变;通过测量各个光斑的峰值半高宽和分布函数,得到被测光谱成像系统的光谱分辨率和响应函数,用于测试色散型光谱成像系统的光谱性能。本发明提供的测试方法,无需机械扫描,测试速度快,测试功能多,能够同时完成多个光谱性能参数的测试,并适用于不同型号光谱成像仪的性能测量,适用范围广。

    一种用于测量色散型光谱成像系统光谱性能的成像装置

    公开(公告)号:CN219015468U

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202222882898.2

    申请日:2022-10-31

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型涉及一种用于测量色散型光谱成像系统光谱性能的成像装置。被测光谱成像系统的狭缝面与双远心中继系统的像面重合,一维小孔阵列靶标安装在双远心中继系统的物面上,靶标基板为非透光,靶标图案为若干个直径相同、在一条直线上等间距排布的透光小孔;激光频率梳光源入射至旋转积分球,旋转积分球的出射光照明一维小孔阵列靶标,面阵探测器安装在被测光谱成像系统的像面处。本实用新型利用安装在被测光谱成像系统像面上的面阵探测器成像,得到用于光谱性能测试的靶标图像结果,用于光谱性能的测量。在成像过程中无需机械扫描,测试速度快;测试功能多,可同时完成多个光谱性能参数的测试;适用范围广,适用于不同型号的光谱成像仪。

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