集成电路中真随机数的产生方法

    公开(公告)号:CN101727308A

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200810155618.X

    申请日:2008-10-28

    Abstract: 本发明涉及一种集成电路中真随机数的产生方法,属于核算装置技术领域。特点是:首先通过采样电路,对数字电源信号及数字电源信所产生的噪声进行采样;随后对采样到的噪声信号进行放大,得到随机数模拟数值;接着对随机数模拟数值进行比较,获取两组64位的数据信号,存入移位寄存器当中;最后将存入的两组数据信号分别记为第一随机序列和第二随机序列,把第一随机序列作为DES算法中的明文,把第二随机序列当作DES算法中的密钥,进行DES算法,获取真随机数。本发明增加了随机数的可被预测的难度,运用在信息安全领域的集成电路设计当中,不仅安全性能高,且设计周期短。

    集成电路中真随机数的产生方法

    公开(公告)号:CN101727308B

    公开(公告)日:2012-02-01

    申请号:CN200810155618.X

    申请日:2008-10-28

    Abstract: 本发明涉及一种集成电路中真随机数的产生方法,属于核算装置技术领域。特点是:首先通过采样电路,对数字电源信号及数字电源信所产生的噪声进行采样;随后对采样到的噪声信号进行放大,得到随机数模拟数值;接着对随机数模拟数值进行比较,获取两组64位的数据信号,存入移位寄存器当中;最后将存入的两组数据信号分别记为第一随机序列和第二随机序列,把第一随机序列作为DES算法中的明文,把第二随机序列当作DES算法中的密钥,进行DES算法,获取真随机数。本发明增加了随机数的可被预测的难度,运用在信息安全领域的集成电路设计当中,不仅安全性能高,且设计周期短。

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