基板处理装置及基板处理方法

    公开(公告)号:CN110114857B

    公开(公告)日:2023-06-13

    申请号:CN201780081004.9

    申请日:2017-12-27

    Abstract: 本发明提供一种基板处理装置(10),其是对半导体晶圆(W)的被洗涤面(Wa)进行洗涤的基板处理装置(10),其具备:能够保持半导体晶圆(W)的旋转夹头(21)、与保持于旋转夹头(21)上的半导体晶圆(W)的被洗涤面(Wa)相对配置且使多孔质的氟树脂的纤维相对于半导体晶圆(W)的表面朝向垂直方向形成的洗涤刷(41a)、使旋转夹头(21)以上述基板的被洗涤面(Wa)的法线方向作为基板旋转轴进行旋转驱动的旋转发动机(44)、和对保持于旋转夹头(21)上的半导体晶圆(W)的被洗涤面(Wa)供给洗涤液(L)的喷嘴管(45),为了使颗粒除去力增加,可以使用试剂作为洗涤液、或者将洗涤液加热,同时进行广范围的颗粒除去。

    基板处理装置及基板处理方法

    公开(公告)号:CN110114857A

    公开(公告)日:2019-08-09

    申请号:CN201780081004.9

    申请日:2017-12-27

    Abstract: 本发明提供一种基板处理装置(10),其是对半导体晶圆(W)的被洗涤面(Wa)进行洗涤的基板处理装置(10),其具备:能够保持半导体晶圆(W)的旋转夹头(21)、与保持于旋转夹头(21)上的半导体晶圆(W)的被洗涤面(Wa)相对配置且使多孔质的氟树脂的纤维相对于半导体晶圆(W)的表面朝向垂直方向形成的洗涤刷(41a)、使旋转夹头(21)以上述基板的被洗涤面(Wa)的法线方向作为基板旋转轴进行旋转驱动的旋转发动机(44)、和对保持于旋转夹头(21)上的半导体晶圆(W)的被洗涤面(Wa)供给洗涤液(L)的喷嘴管(45),为了使颗粒除去力增加,可以使用试剂作为洗涤液、或者将洗涤液加热,同时进行广范围的颗粒除去。

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