公开(公告)号：CN110168414A

公开(公告)日：2019-08-23

申请号：CN201880007134.2

申请日：2018-01-10

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： B.斯坦因 ,  M.胡斯力克 ,  E.鲍姆加特 ,  C.胡贝 ,  R.维斯

IPC: G02B3/00 ,  G01J3/02 ,  G01N21/00 ,  G01J3/28 ,  G01J3/45 ,  G01J3/453

Abstract: 本发明涉及一种微型分光仪（1000），所述微型分光仪包括：-探测单元（3），所述探测单元被设置用于确定电磁辐射的光学量；-光学单元（1），所述光学单元包括Savart-元件（V），其中，所述Savart-元件（V）包括偏光器（10）、第一双折射元件（12'）和第二双折射元件以及分析器（11）；和-光学成像系统（2），所述光学成像系统布置在所述光学单元（1）和所述探测单元（3）之间的光路中，其中，所述光学成像系统（2）被设置用于，使来自所述光学单元（1）的电磁辐射（103'、103''）成像到所述探测单元（3）上；其中，所述光学成像系统（2）包括多孔物镜（22），其中，所述多孔物镜（22）包括多个光学成像通道。