公开(公告)号：CN107567590B

公开(公告)日：2020-10-23

申请号：CN201680025805.9

申请日：2016-03-08

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： T.卢茨 ,  F.沙茨 ,  R.勒尔韦尔

IPC: G01R33/12 ,  G01R15/24 ,  G01R33/032

Abstract: 本发明涉及一种用于在使用金刚石材料（102）的情况下测量电流（138）的方法（200）。所述金刚石材料（102）在金刚石材料（102）的晶格（300）中具有至少一个氮插入（112）和与所述氮插入（112）相邻的缺陷（114）。所述方法（200）具有提供的步骤（202）、检测的步骤（204）和分析的步骤（206）。在提供的步骤（202）中提供电磁波（118）来激励所述金刚石材料（102）。在检测的步骤（204）中检测金刚石材料（102）的荧光（122）的强度（120）。在分析的步骤（206）中分析所述强度（120）和电磁波（118）的频率（126），以便求取影响荧光的磁场强度（124）。

公开(公告)号：CN107567590A

公开(公告)日：2018-01-09

申请号：CN201680025805.9

申请日：2016-03-08

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： T.卢茨 ,  F.沙茨 ,  R.勒尔韦尔

IPC: G01R33/12 ,  G01R15/24 ,  G01R33/032

Abstract: 本发明涉及一种用于在使用金刚石材料（102）的情况下测量电流（138）的方法（200）。所述金刚石材料（102）在金刚石材料（102）的晶格（300）中具有至少一个氮插入（112）和与所述氮插入（112）相邻的缺陷（114）。所述方法（200）具有提供的步骤（202）、检测的步骤（204）和分析的步骤（206）。在提供的步骤（202）中提供电磁波（118）来激励所述金刚石材料（102）。在检测的步骤（204）中检测金刚石材料（102）的荧光（122）的强度（120）。在分析的步骤（206）中分析所述强度（120）和电磁波（118）的频率（126），以便求取影响荧光的磁场强度（124）。