一种反卷积处理方法、装置、电子设备及介质

    公开(公告)号:CN114580618A

    公开(公告)日:2022-06-03

    申请号:CN202210255640.1

    申请日:2022-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种反卷积处理方法、装置、电子设备及介质,方法包括:将输入特征图片分别与各个经预处理获得的子卷积核进行卷积计算,得到与子卷积核数量对应的中间特征图片,所述子卷积核通过对原始的反卷积核进行离线重排预处理获得;将所述中间特征图片进行在线重排,得到输出特征图片。本发明将反卷积核拆成多个子卷积核,将输入特征图片分别和各个子卷积核进行卷积计算,最后通过在线数据重排得到反卷积结果,提高了计算速度,无需再设计专用的反卷积加速器,能够用于超分辨率重建、生成对抗网络、目标检测等多个深度学习应用场景。

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