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公开(公告)号：CN1608289A
公开(公告)日：2005-04-20
申请号：CN02826200.X
申请日：2002-12-18
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/1263 , G11B7/00 , G11B7/1356 , G11B7/1369 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明涉及光头、使用其的光学记录介质记录和/或重放装置及方法，在光盘装置(101)中，光头(104)作用到光盘(102)上的光束的功率由光耦合效率变化元件(214、215)根据光盘类型、多层光盘记录层和操作模式进行控制，同时，由光电检测元件(216)检测光耦合效率变化，从而，光耦合效率在必需的最少时间内可靠地变化，并且可大大地改变作用到光盘上的光束的功率，同时不较大地改变在光源(212)一侧上的输出功率比例。因而，有可能通过使用具有较小额定光输出的光源来实现优选的记录/再现特性。
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公开(公告)号：CN1596439A
公开(公告)日：2005-03-16
申请号：CN03801675.3
申请日：2003-08-19
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/135
CPC classification number: G11B7/128 , G11B7/1263 , G11B7/1356 , G11B7/1369 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013
Abstract: 一种光头，进行信息信号到/从光盘(102)的记录或再现。根据光盘(102)的类型、多层光盘的记录面和操作模式，通过使用如液晶元件(214)的光耦合改变元件，该光头控制关于施加到光盘(102)的光束的耦合效率，并显著地改变施加到光盘(102)的光束的功率，而不过多地增大半导体激光器元件(212)的输出功率的变化量。光束分离器(218)以预定的比率分割入射的P偏振光束，以便入射到用于监视衬底功率的光探测器(219)。
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公开(公告)号：CN100385532C
公开(公告)日：2008-04-30
申请号：CN02826200.X
申请日：2002-12-18
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B7/1263 , G11B7/00 , G11B7/1356 , G11B7/1369 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明涉及光头、使用其的光学记录介质记录和/或重放装置及方法，所述光头包括：光源；光聚焦部件；光束分离部件；光检测部件，检测经光束分离部件返回的返回光；以及光耦合效率变化部件和光耦合效率检测部件，光耦合效率变化部件用于改变光耦合效率，光耦合效率是聚焦在光学记录介质上的光量与从光源发射的总光量的比率；以及光耦合效率检测部件用于检测与光耦合效率变化部件所改变的光耦合效率相应的信息，所述光头还包括：前端自动功率控制检测部件，设置在光耦合效率变化部件和光聚焦部件之间，用于监视向着记录表面前进的光束的量，以及其输出用于自动功率控制。因而，有可能通过使用具有较小额定光输出的光源来实现优选的记录/再现特性。
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公开(公告)号：CN1270309C
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：CN03801675.3
申请日：2003-08-19
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/135
CPC classification number: G11B7/128 , G11B7/1263 , G11B7/1356 , G11B7/1369 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013
Abstract: 一种光头，进行信息信号到/从光盘(102)的记录或再现。根据光盘(102)的类型、多层光盘的记录面和操作模式，通过使用如液晶元件(214)的光耦合改变元件，该光头控制关于施加到光盘(102)的光束的耦合效率，并显著地改变施加到光盘(102)的光束的功率，而不过多地增大半导体激光器元件(212)的输出功率的变化量。光束分离器(218)以预定的比率分割入射的P偏振光束，以便入射到用于监视衬底功率的光探测器(219)。
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