公开(公告)号：CN104820195A

公开(公告)日：2015-08-05

申请号：CN201510040941.2

申请日：2015-01-27

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 高桥智

IPC: G01R33/022 ,  G01R33/032

CPC classification number: G01R33/032

Abstract: 本发明提供一种能够去除光学噪声的影响的磁场测量装置。气室(1、2)分别使第1检测光、第2检测光透射，并使直线偏振光的偏振面根据磁场而旋转。第1检测部(41)与第2检测部(42)检测透射了气室(1、2)的直线偏振光的偏振面。第3检测部(43)与第4检测部(44)检测没有透射气室(1、2)的直线偏振光的偏振面。测量部(6)利用第1检测部(41)和第3检测部(43)的检测结果，去除第1检测光中的光学噪声的影响，利用第2检测部(42)和第4检测部(44)的检测结果，去除第2检测光中的光学噪声的影响，由此测量气室(1、2)中的磁场之差。

公开(公告)号：CN105652223B

公开(公告)日：2020-06-19

申请号：CN201510854835.8

申请日：2015-11-30

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 长坂公夫 ,  宫坂光敏 ,  高桥智

IPC: A61B5/055

Abstract: 本发明提供磁场测量方法。在光泵浦式的磁测量中，能够在探测光为一个方向的同时，测量多个方向的磁场。在磁场测量装置(1)中，光源(18)针对气室(12)，向Z轴方向照射兼为泵浦光和探测光的直线偏振光，磁场产生器(8)针对气室(12)，分别向X、Y轴方向施加相同周期并且相位不同的交变磁场。运算控制部(30)使用交变磁场的X、Y轴方向成分Ax、Ay、以及相当于磁传感器(10)的测量值W‑的自旋极化度Mx，计算测量区域的磁场C(Cx、Cy、Cz)。

公开(公告)号：CN105301527A

公开(公告)日：2016-02-03

申请号：CN201510434566.X

申请日：2015-07-22

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 高桥智

IPC: G01R33/032 ,  A61B5/00

CPC classification number: G01R33/032

Abstract: 本发明提供气室以及磁测定装置。抑制液体或固体的碱金属附着于主室的壁面。气室(12)具有：腔室主体(125、127)；第一壁部(125)，其规定出腔室主体的成为主室(121)的内部空间；副室，其存积碱金属；第二壁部(126)，其规定出腔室主体的与主室(121)相连的副室(122)；加热器(17)，其覆盖第一壁部(125)，用于使碱金属气化；以及加热器(17)，其覆盖第一壁部(125)。此处，第二壁部(126)比第一壁部(125)厚。

公开(公告)号：CN105652223A

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201510854835.8

申请日：2015-11-30

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 长坂公夫 ,  宫坂光敏 ,  高桥智

IPC: G01R33/26

Abstract: 本发明提供磁场测量方法。在光泵浦式的磁测量中，能够在探测光为一个方向的同时，测量多个方向的磁场。在磁场测量装置(1)中，光源(18)针对气室(12)，向Z轴方向照射兼为泵浦光和探测光的直线偏振光，磁场产生器(8)针对气室(12)，分别向X、Y轴方向施加相同周期并且相位不同的交变磁场。运算控制部(30)使用交变磁场的X、Y轴方向成分Ax、Ay、以及相当于磁传感器(10)的测量值W-的自旋极化度Mx，计算测量区域的磁场C(Cx、Cy、Cz)。