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公开(公告)号：CN118817073A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410478217.7
申请日：2024-04-19
Applicant: 精工爱普生株式会社
Abstract: 本申请公开了一种测色装置及调整方法。抑制相对于检测部的检测位置的测色器的测色位置偏离导致的测色精度的下降。测色装置具备：支承台，支承测色对象物；滑架，具有检测部且支承测色器，该检测部检测形成于测色对象物的被检测部；以及移动部，使滑架移动，在该测色装置中，基于使检测部对被检测部进行检测的检测部的检测位置、以及使测色器对被检测部进行测色的测色器的测色位置计算出调整值，基于调整值调整对设置块进行测色时的滑架的位置。
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公开(公告)号：CN118624027A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410256234.6
申请日：2024-03-06
Applicant: 精工爱普生株式会社
Abstract: 本发明涉及测色装置和控制方法，不伴随着测色装置的大型化地容易对形成于测色对象物的块进行测色而不发生位置偏移。能安装对测色对象物(10)的块(11)进行测色的测色器(100)的测色装置(1)具备：支承台(41)，支承测色对象物(10)；滑架(30)，支承测色器(100)；扫描机构部(20)，在支承台(41)上扫描滑架(30)；以及控制部(52)，控制扫描机构部(20)，滑架(30)具有：支承部(310)，具有在测色器(100)被支承的状态下使测色部(122)从滑架露出的开口部(302a)；以及第一检测部(37)和第二检测部(38)，夹着开口部设置，控制部(52)根据由第一检测部(37)和第二检测部(38)对被检测部(12)的检测结果来确定块(11)的位置。
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公开(公告)号：CN118624029A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410256244.X
申请日：2024-03-06
Applicant: 精工爱普生株式会社
Abstract: 本发明涉及控制方法和测色装置。在测色装置(1)的控制方法中，测色装置(1)具备：支承台(41)，支承测色对象物(10)；测色器(100)，具有在与测色对象物(10)接触的状态下对测色对象物(10)进行测色的测色部(122)；滑架(30)，支承测色器(100)；以及扫描机构部(20)，在支承台(41)上扫描滑架(30)，测色装置(1)的控制方法的特征在于，包括：测色工序，通过使滑架从测色对象物向高度方向移动，使测色部从测色部与测色对象物接触的状态从测色对象物分开，在高度方向上滑架与测色对象物的间隔不同的多个位置处由测色部进行测色；以及算出工序，基于测色工序中的测色结果，算出用于确定高度方向上的滑架的设定位置的调整值。
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