公开(公告)号：CN106236012A

公开(公告)日：2016-12-21

申请号：CN201610405634.4

申请日：2016-06-08

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 宫坂光敏 ,  斋藤敏广 ,  出口明広 ,  保刈龙治

IPC: A61B5/00

CPC classification number: A61B5/04007 ,  A61B5/0046 ,  A61B5/0064 ,  A61B5/0077 ,  A61B5/04008 ,  A61B5/1072 ,  A61B5/1077 ,  A61B5/704 ,  G01R33/0076 ,  G01R33/025 ,  G01R33/0358 ,  A61B5/00

Abstract: 提供一种磁场计测装置及磁场计测方法，能够在不受被检体体型的影响下，精度良好地检测被检体的磁矢量分布。磁场计测装置具备：检测来自被检体(6)的磁场的磁传感器(4)，设置有被检体(6)的台(3)，测定被检体(6)的表面形状的形状测定装置(5)，计算表面形状的平均平面的平均平面运算部，以及对台(3)进行控制以使磁传感器(4)的相对面与平均平面平行的控制部。