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发明公开
一种寄存器测试方法和装置审中-实审

公开(公告)号：CN115952757A

公开(公告)日：2023-04-11

申请号：CN202310027210.9

申请日：2023-01-09

申请人： 篆芯半导体(南京)有限公司

发明人： 朱伟平

IPC分类号： G06F30/33 , G06F11/22 , G06F115/10

摘要： 本申请实施例公开了一种寄存器测试方法和装置，所述方法包括：获取待测试寄存器的寄存器描述文档；根据所述寄存器描述文档构建待测设计内部寄存器对应的寄存器模型；将所述寄存器模型集成到验证环境中；基于所述验证环境根据寄存器初始值、寄存器读写数据和寄存器独立性的校验结果确定待测试寄存器的测试结果。实现了对可读可写寄存器的高效测试。