试题资源分析方法、装置、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN112685532B

    公开(公告)日:2023-01-17

    申请号:CN202011580551.1

    申请日:2020-12-28

    Abstract: 本发明提供一种试题资源分析方法、装置、电子设备和存储介质,其中方法包括:确定待分析的试题资源;对试题资源进行错误率分析,得到错误率分析结果;将试题资源输入使用频次预估模型,得到使用频次预估模型输出的适用性分析结果,使用频次预估模型是基于样本试题资源,以及样本试题资源在目标应用场景下的适用性标签训练得到的;基于错误率分析结果和适用性分析结果,确定试题资源的分析结果。本发明提供的方法、装置、电子设备和存储介质,能够得到能够从规范性、完善性、周期适用性等层面上表征试题资源质量的分析结果,实现了全面、客观的试题资源质量分析,有助于合理分配试题资源加工资源,实现高效率的试题资源加工。

    试题资源分析方法、装置、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN112685532A

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202011580551.1

    申请日:2020-12-28

    Abstract: 本发明提供一种试题资源分析方法、装置、电子设备和存储介质,其中方法包括:确定待分析的试题资源;对试题资源进行错误率分析,得到错误率分析结果;将试题资源输入使用频次预估模型,得到使用频次预估模型输出的适用性分析结果,使用频次预估模型是基于样本试题资源,以及样本试题资源在目标应用场景下的适用性标签训练得到的;基于错误率分析结果和适用性分析结果,确定试题资源的分析结果。本发明提供的方法、装置、电子设备和存储介质,能够得到能够从规范性、完善性、周期适用性等层面上表征试题资源质量的分析结果,实现了全面、客观的试题资源质量分析,有助于合理分配试题资源加工资源,实现高效率的试题资源加工。

    数据分析方法、装置、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN119721255A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411951240.X

    申请日:2024-12-27

    Abstract: 本发明涉及人工智能技术领域,提供一种数据分析方法、装置、电子设备和存储介质,方法包括:获取需求文本,并检索得到与所述需求文本相关的候选结构化数据;基于所述需求文本和所述候选结构化数据,通过大型语言模型依次执行与所述需求文本对应的链式推理任务,所述链式推理任务包括字段筛选任务、代码生成任务和数据分析任务中的至少一种;基于尾轮推理任务的输出结果,确定针对所述需求文本的数据分析结果。本发明提供的数据分析方法、装置、电子设备和存储介质,大幅提升了数据分析的效率和准确性。

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