一种HAL层测试方法、装置、计算机程序产品及系统

    公开(公告)号:CN119961172A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202510156258.9

    申请日:2025-02-12

    Abstract: 本申请提供了一种HAL层测试方法、装置、计算机程序产品及系统,该方法包括:响应于对第一测试指令的输入操作,获取所述第一测试指令,所述第一测试指令包括被测试系统HAL层的第一目标API接口的接口标识以及所述第一目标API接口的测试参数;根据所述接口标识,确定所述第一目标API接口的调用路径;根据所述调用路径以及所述测试参数,调用所述第一目标API接口,以使得所述第一目标API接口基于所述测试参数执行第一操作,所述第一操作与所述第一目标API接口对应的功能操作匹配,所述第一操作的操作结果表征所述第一目标API接口的功能测试结果。本申请能够实现HAL层的高效、灵活测试,提升测试维护性与可扩展性。

Patent Agency Ranking