一种高频电感损耗测量方法

    公开(公告)号:CN114200214B

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202111509291.3

    申请日:2021-12-10

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种高频电感损耗测量方法,该方法在阻尼振荡法高频电感损耗测量电路的直流预励磁回路寄生电感上并联去磁回路,以通过去磁回路泄放能量,使待测磁件回路获得更理想的振荡,进而提高测量精度。该方法有利于提高高频电感损耗测量的精确度,测量频率高,实现成本低。

    一种高频电感损耗测量方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114200214A

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202111509291.3

    申请日:2021-12-10

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种高频电感损耗测量方法,该方法在阻尼振荡法高频电感损耗测量电路的直流预励磁回路寄生电感上并联去磁回路,以通过去磁回路泄放能量,使待测磁件回路获得更理想的振荡,进而提高测量精度。该方法有利于提高高频电感损耗测量的精确度,测量频率高,实现成本低。

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