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公开(公告)号：CN119827460A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202510025855.8
申请日：2025-01-08
Applicant: 福州大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明提供一种基于频域干涉的光学材料折射率曲线测量装置及方法，包括：S1、采集三组干涉信号；S2、采集旋转光学材料样品的干涉信号；S3、对S1所得的干涉信号进行光谱矫正；S4、对S2所得的干涉信号进行光谱矫正；S5、对S4中的频域信号进行数字滤波，经逆快速傅里叶变换后利用希尔伯特变换求取石英玻璃的相位数据，对整个相位数据按列解卷得到波长下的相位差。S6、构建光学厚度变化量与相位改变量之间的物理方程；S7、将S4和S5所求得到各数据带入S6所建立的方程中计算得到光学材料样品折射率n(k)。本发明所提出的方法可以高精度的无损测量光学材料色散。
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