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公开(公告)号：CN101573679A
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：CN200780014281.4
申请日：2007-04-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： K·范勒
IPC: G06F3/03
CPC classification number: G06F3/0338
Abstract: 用于检测可移动物体(2)如操纵杆的移动的检测电路(1)设有第一检测器(100)和第二检测器(200)，第一检测器(100)用于检测操纵杆在第一方向的第一移动，第一检测器(100)包括第一检测单元(101)，第一检测单元(101)用于检测光点(3)的存在/缺失，光点(3)的位置取决于这些第一移动，第二检测器(200)用于检测操纵杆在第二方向的第二移动，第二检测器(200)包括第二检测单元(201)，第二检测单元(201)用于检测光点(3)的第一/第二强度，光点(3)的这些强度取决于这些第二移动。这些检测电路(1)对组装期间元器件的未对准不敏感，并在制造时更加简单、成本更低。这些第二检测器(200)完全位于独立于这些操纵杆的位置的光点(3)内，且第一检测器和第三检测器部分地位于依赖于这些操纵杆的位置的光点(3)内。这些检测单元(101)包括光电二极管(120)和用于将来自这些光电二极管(120)的信号数字化的晶体管(121)。
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公开(公告)号：CN101427205A
公开(公告)日：2009-05-06
申请号：CN200780014371.3
申请日：2007-04-10
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G06F3/0338 , G05G2009/04759 , G05G2009/04777 , G06F3/0304
Abstract: 用于检测可移动物体(2)如操纵杆的移动的检测电路(1)设有检测器(100，200)，用于检测可移动物体(2)的移动。检测器(100，200)包括检测单元(101－136，201－204)，用于检测来自源(4)的光点(3)，光点(3)取决于这些移动。检测电路(1)还设有参考检测器(300)用于补偿老化变化/过程变化，参考检测器(300)包括参考检测单元(301－304)，用于标定检测单元(101－136，201－204)。这种检测电路(1)在较小的程度上遭受老化变化/过程变化。用于检测X或Y移动的第一检测器(100)部分地位于依赖于这些操纵杆的位置的光点(3)内，而参考检测器(300)则完全地位于独立于这些操纵杆的位置的光点(3)内。用于检测Z移动的第二检测器(200)完全地位于独立于这些操纵杆的位置的光点(3)内，而参考检测器(300)则完全地位于独立于这些操纵杆的位置的光点(3)之外。
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公开(公告)号：CN101449231A
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：CN200780018305.3
申请日：2007-05-08
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： K·范勒
IPC: G06F3/03
CPC classification number: G06F3/0338 , G06F3/0304
Abstract: 用于检测可移动物体(2)如操纵杆的移动的检测电路(1)设有第一检测器(100)和第二检测器(200)，第一检测器(100)用于检测操纵杆在第一方向的第一移动，第一检测器(100)包括第一检测单元(101)，第一检测单元(101)用于检测光点(3)的存在/缺失，光点(3)的位置取决于这些第一移动，第二检测器(200)用于检测操纵杆在第二方向的第二移动，第二检测器(200)包括第二检测单元(201)，第二检测单元(201)用于检测光点(3)的第一/第二强度，光点(3)的这些强度取决于这些第二移动。这些检测电路(1)对组装期间元器件的未对准不敏感，并在制造时更加简单、成本更低。这些第二检测器(200)完全位于独立于这些操纵杆的位置的光点(3)内，且第一检测器和第三检测器部分地位于依赖于这些操纵杆的位置的光点(3)内。这些检测单元(101)包括光电二极管(120)和用于将来自这些光电二极管(120)的信号数字化的晶体管(121)。
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公开(公告)号：CN101427203A
公开(公告)日：2009-05-06
申请号：CN200780014291.8
申请日：2007-04-12
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G06F3/03
CPC classification number: G06F3/0338
Abstract: 用于检测可移动物体(2)如操纵杆的移动的检测电路(1)设有第一检测器(100)和第二检测器(200)，第一检测器(100)用于检测操纵杆在第一方向的第一移动，第一检测器(100)包括第一检测单元(101)，第一检测单元(101)用于检测光点(3)的存在/缺失，光点(3)的位置取决于这些第一移动，第二检测器(200)用于检测操纵杆在第二方向的第二移动，第二检测器(200)包括第二检测单元(201)，第二检测单元(201)用于检测光点(3)的第一/第二强度，光点(3)的这些强度取决于这些第二移动。这些检测电路(1)对组装期间元器件的未对准不敏感，并在制造时更加简单、成本更低。这些第二检测器(200)完全位于独立于这些操纵杆的位置的光点(3)内，且第一检测器和第三检测器部分地位于依赖于这些操纵杆的位置的光点(3)内。这些检测单元(101)包括光电二极管(120)和用于将来自这些光电二极管(120)的信号数字化的晶体管(121)。
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