针对暗场和相衬CT的鲁棒重建

    公开(公告)号:CN107810524B

    公开(公告)日:2022-05-17

    申请号:CN201680037546.1

    申请日:2016-06-27

    Abstract: 一种用于信号处理的系统和相关的方法。干涉投影数据被重建成针对被成像的目标的物理性质的空间分布的一幅或多幅图像。所述干涉仪投影数据是从由X射线探测器(D)采集的信号导出的,所述信号是由X射线辐射在所述X射线辐射与干涉仪和要被成像的目标(OB)相互作用之后引起的,所述干涉仪(IF)具有参考相位。重建器(RECON)通过调整拟合变量来将所述数据拟合到信号模型来重建(一幅或多幅)图像,所述拟合变量包括i)针对所述一幅或多幅图像的一个或多个成像变量;以及ii)除了所述一个或多个成像变量之外的针对所述参考相位的波动的专用相位变量。

    源-检测器布置结构
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106999125B

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN201580060997.2

    申请日:2015-11-10

    Abstract: 本发明涉及用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备(10)的源‑检测器布置结构(11)。所述源‑检测器布置结构包括:X射线源(12),所述X射线源适于相对于对象(140)围绕旋转轴线(R)旋转移动并且适于发射呈线条图案(21)的相干或准相干辐射的X射线束;以及X射线检测系统(16),所述X射线检测系统包括第一光栅元件(24)和第二光栅元件(26)以及检测器元件(6);其中所述辐射的所述线条图案和所述光栅元件的光栅方向被布置成正交于所述旋转轴线;并且所述第一光栅元件具有依赖于所述X射线束的锥角(β)而变化的第一光栅节距和/或所述第二光栅元件具有依赖于所述X射线束的所述锥角而变化的第二光栅节距。

    针对暗场和相衬CT的鲁棒重建

    公开(公告)号:CN107810524A

    公开(公告)日:2018-03-16

    申请号:CN201680037546.1

    申请日:2016-06-27

    CPC classification number: G06T11/006 A61B6/4208 A61B6/5205 G06T2211/424

    Abstract: 一种用于信号处理的系统和相关的方法。干涉投影数据被重建成针对被成像的目标的物理性质的空间分布的一幅或多幅图像。所述干涉仪投影数据是从由X射线探测器(D)采集的信号导出的,所述信号是由X射线辐射在所述X射线辐射与干涉仪和要被成像的目标(OB)相互作用之后引起的,所述干涉仪(IF)具有参考相位。重建器(RECON)通过调整拟合变量来将所述数据拟合到信号模型来重建(一幅或多幅)图像,所述拟合变量包括i)针对所述一幅或多幅图像的一个或多个成像变量;以及ii)除了所述一个或多个成像变量之外的针对所述参考相位的波动的专用相位变量。

    源‑检测器布置结构
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106999125A

    公开(公告)日:2017-08-01

    申请号:CN201580060997.2

    申请日:2015-11-10

    Abstract: 本发明涉及用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备(10)的源‑检测器布置结构(11)。所述源‑检测器布置结构包括:X射线源(12),所述X射线源适于相对于对象(140)围绕旋转轴线(R)旋转移动并且适于发射呈线条图案(21)的相干或准相干辐射的X射线束;以及X射线检测系统(16),所述X射线检测系统包括第一光栅元件(24)和第二光栅元件(26)以及检测器元件(6);其中所述辐射的所述线条图案和所述光栅元件的光栅方向被布置成正交于所述旋转轴线;并且所述第一光栅元件具有依赖于所述X射线束的锥角(β)而变化的第一光栅节距和/或所述第二光栅元件具有依赖于所述X射线束的所述锥角而变化的第二光栅节距。

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