公开(公告)号：CN119947650A

公开(公告)日：2025-05-06

申请号：CN202380069267.3

申请日：2023-09-20

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： S·魏斯 ,  C·M·里宾 ,  A·U·道格拉斯 ,  P·福斯曼 ,  O·利普斯 ,  G·福格特米尔

IPC: A61B6/03 ,  A61B6/40 ,  A61B6/42 ,  A61B6/00 ,  B01D19/00

Abstract: 一种计算机断层摄影CT成像系统(100)包括可旋转机架(110)和部件(120)。所述部件(120)被机械地耦合到所述机架(110)，并且所述机架被配置为绕旋转轴(130)旋转所述部件。所述部件包括用于包含流体的储液器(140)和腔室(150)。所述腔室(150)被耦合到储液器(140)，并且所述腔室被配置为接收流体中的气泡(160)或颗粒(170)，由于在所述部件绕旋转轴旋转期间作用于所述流体的离心力，所述气泡或颗粒在相对于所述机架(110)的所述旋转轴(130)径向(180)受力。

公开(公告)号：CN118475295A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202280086862.3

申请日：2022-12-19

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： L·D·米勒 ,  H·德尔 ,  C·M·里宾

IPC: A61B6/03 ,  A61B6/10 ,  A61B6/58 ,  A61B6/00 ,  H05G1/54 ,  G16H20/30 ,  G16H40/40 ,  G16H40/63

Abstract: 公开了用于监测成像系统的操作安全性的方法和装置。直接从一个或多个辐射探测器接收辐射信号。将未衰减的辐射信号和扫描元数据存储在存储器中，并且对所存储的辐射信号执行时域分析和频域分析。记录根据频率分析导出的频谱中所有大于预定信噪比(SNR)的峰值的幅度数据和频率数据。根据所记录的幅度数据和频率数据来监测所述成像系统的所述操作安全性。被写入数据文件的先前记录的幅度数据和频率数据可以用于与当前记录的幅度数据和频率数据进行比较，或者可以用于确定阈值，当所述当前记录的幅度数据和频率数据超过所述阈值时，生成警告和/或自动停止主动扫描。

公开(公告)号：CN118450849A

公开(公告)日：2024-08-06

申请号：CN202280085843.9

申请日：2022-12-23

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： H·德尔 ,  L·米勒 ,  C·M·里宾

IPC: A61B6/58 ,  A61B6/42 ,  A61B6/03 ,  A61B6/00 ,  H05G1/26 ,  H05G1/54

Abstract: 公开了预测X射线管的维护和故障的方法和装置。X射线辐射信号直接从一个或多个X射线检测器接收，不会被受检查对象或受试者衰减。将未衰减的X射线辐射信号和扫描元数据存储在存储器中，并对存储的X射线辐射信号进行时域分析和频域分析。存储从频率分析导出的频谱中大于预定信噪比(SNR)的所有波峰的振幅和频率数据。根据存储的振幅和频率数据对X射线管的部件进行监控。存储的大于预定SNR的所有波峰的振幅和频率数据可被写入数据文件，以便进一步分析。

公开(公告)号：CN116097390A

公开(公告)日：2023-05-09

申请号：CN202180061661.3

申请日：2021-09-02

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： W·吕腾 ,  C·M·里宾

IPC: H01J35/16

Abstract: 本发明涉及一种用于监测X射线管(100)的光学监测系统(200)，所述光学监测系统(200)包括：至少一个光学传感器(201)，其被配置为检测第一光学参数的第一信号和第二光学参数的第二信号，从而生成测量数据，其中，所述第一光学参数和所述第二光学参数选自包括等离子体辉光、放电、微放电、电弧、X射线荧光、线发射的组，其中，所述第一光学参数与所述第二光学参数彼此不同，所述光学监测系统(200)还包括：计算单元(202)，其被配置为将所述生成的测量数据和由所述计算单元(202)执行的对测量数据的分析的结果传送到光学监测系统(200)和所述X射线管(100)外部的远程系统(300)。本发明还涉及一种包括X射线管(100)和这样的光学监测系统(200)的单元，以及一种用于监测X射线管(100)的方法(400)。