一种推荐系统中模型测试方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN110083542A

    公开(公告)日:2019-08-02

    申请号:CN201910371846.9

    申请日:2019-05-06

    Abstract: 本发明涉及计算机技术领域,提供一种推荐系统中模型测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,以解决测试准确性不足问题。该方法包括:获取待测模型对应的测试样本数据;通过待测模型对测试样本数据进行处理,获得第一输出结果;根据第一输出结果与第二输出结果,获得比对结果;其中,第二输出结果为通过线上已使用的线上模型,对测试样本数据进行处理输出的结果,待测模型与线上模型为同一功能模型;基于比对结果获得待测模型的测试结果。不但考虑了线上模型的第二输出结果,而且考虑了待测模型的第一输出结果,通过与第一输出结果和第二输出结果相关的比对结果确定测试结果,以提高测试结果的准确性。

    一种推荐系统中模型测试方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN110083542B

    公开(公告)日:2023-11-07

    申请号:CN201910371846.9

    申请日:2019-05-06

    Abstract: 本发明涉及计算机技术领域,提供一种推荐系统中模型测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,以解决测试准确性不足问题。该方法包括:获取待测模型对应的测试样本数据;通过待测模型对测试样本数据进行处理,获得第一输出结果;根据第一输出结果与第二输出结果,获得比对结果;其中,第二输出结果为通过线上已使用的线上模型,对测试样本数据进行处理输出的结果,待测模型与线上模型为同一功能模型;基于比对结果获得待测模型的测试结果。不但考虑了线上模型的第二输出结果,而且考虑了待测模型的第一输出结果,通过与第一输出结果和第二输出结果相关的比对结果确定测试结果,以提高测试结果的准确性。

Patent Agency Ranking