测试电子设备启动性能的方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN104853187B

    公开(公告)日:2017-04-26

    申请号:CN201510259616.5

    申请日:2015-05-20

    Abstract: 本申请公开了一种测试电子设备启动性能的方法、装置及系统,解决了由于人工测试而导致测试结果的准确性较低的技术问题。具体公开的方法包括:启动继电器以控制电子设备启动;检测电子设备发送的启动消息;响应于在预定时间段内检测到启动消息,根据启动消息获取电子设备的启动时间;基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能。本申请简化了测试步骤,同时增加了测试结果的准确性。

    测试电子设备启动性能的方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN104853187A

    公开(公告)日:2015-08-19

    申请号:CN201510259616.5

    申请日:2015-05-20

    Abstract: 本申请公开了一种测试电子设备启动性能的方法、装置及系统,解决了由于人工测试而导致测试结果的准确性较低的技术问题。具体公开的方法包括:启动继电器以控制电子设备启动;检测电子设备发送的启动消息;响应于在预定时间段内检测到启动消息,根据启动消息获取电子设备的启动时间;基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能。本申请简化了测试步骤,同时增加了测试结果的准确性。

Patent Agency Ranking