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公开(公告)号:CN103441143B
公开(公告)日:2015-09-09
申请号:CN201310289169.9
申请日:2013-07-10
Applicant: 电子科技大学 , 东莞电子科技大学电子信息工程研究院
IPC: H01L29/739 , H01L29/06
Abstract: 具有变组分混合晶体发射区的抗闩锁IGBT,属于功率半导体器件技术领域。本发明基于常规IGBT结构,通过将发射区的纯硅材料变为组分渐变的混合晶体,形成禁带宽度缓变的发射区能带结构。该能带结构在不降低发射区与基区所形成PN结的内建电势的前提下,在发射区内形成发射区少子的加速电场,从而使发射区的少子扩散电流密度增加,基区向发射区的注入增强;而另一方面,发射区向基区的注入保持不变。因此,发射区、基区和漂移区构成的寄生晶体管的发射结注入效率降低,电流放大系数降低,使IGBT中的寄生晶闸管更难达到闩锁条件,这就提高了IGBT的临界闩锁电流,增加了IGBT的安全工作区,提高了IGBT的可靠性。
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公开(公告)号:CN103441143A
公开(公告)日:2013-12-11
申请号:CN201310289169.9
申请日:2013-07-10
Applicant: 电子科技大学
IPC: H01L29/739 , H01L29/06
Abstract: 具有变组分混合晶体发射区的抗闩锁IGBT,属于功率半导体器件技术领域。本发明基于常规IGBT结构,通过将发射区的纯硅材料变为组分渐变的混合晶体,形成禁带宽度缓变的发射区能带结构。该能带结构在不降低发射区与基区所形成PN结的内建电势的前提下,在发射区内形成发射区少子的加速电场,从而使发射区的少子扩散电流密度增加,基区向发射区的注入增强;而另一方面,发射区向基区的注入保持不变。因此,发射区、基区和漂移区构成的寄生晶体管的发射结注入效率降低,电流放大系数降低,使IGBT中的寄生晶闸管更难达到闩锁条件,这就提高了IGBT的临界闩锁电流,增加了IGBT的安全工作区,提高了IGBT的可靠性。
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