一种低温漂特性的张弛振荡器及其调试方法

    公开(公告)号:CN102664605B

    公开(公告)日:2014-11-26

    申请号:CN201210069920.X

    申请日:2012-03-16

    Abstract: 一种低温漂特性的张弛振荡器及其调试方法,涉及振荡器领域。该振荡器电路包括偏置模块,寄存器和振荡模块。振荡模块是由开关结构电路,比较器,电容充放电电路组成。该振荡器以开关结构电路为核心,配合电流调节方式的调试方法,实现张弛振荡器单片集成的同时,使振荡器振荡频率获得了优良的温度稳定性。本发明公开的开关结构电路是为了使张弛振荡器获得良好的温度稳定性,根据电路工作原理,开关结构电路中的元件无论给比较器提供何种温度特性旳阈值电压,均可使张弛振荡器拥有良好的温度稳定性。本发明的低温漂张弛振荡器及其调试方法适用于任何标准CMOS工艺。

    一种低温漂特性的张弛振荡器及其调试方法

    公开(公告)号:CN102664605A

    公开(公告)日:2012-09-12

    申请号:CN201210069920.X

    申请日:2012-03-16

    Abstract: 一种低温漂特性的张弛振荡器及其调试方法,涉及振荡器领域。该振荡器电路包括偏置模块,寄存器和振荡模块。振荡模块是由开关结构电路,比较器,电容充放电电路组成。该振荡器以开关结构电路为核心,配合电流调节方式的调试方法,实现张弛振荡器单片集成的同时,使振荡器振荡频率获得了优良的温度稳定性。本发明公开的开关结构电路是为了使张弛振荡器获得良好的温度稳定性,根据电路工作原理,开关结构电路中的元件无论给比较器提供何种温度特性旳阈值电压,均可使张弛振荡器拥有良好的温度稳定性。本发明的低温漂张弛振荡器及其调试方法适用于任何标准CMOS工艺。

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