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公开(公告)号：CN111352060A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN202010249952.2
申请日：2020-04-01
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法，包括以下步骤：S1.初始化时域反射计，使其能够测量并显示出校准件的全部长度；S2.选择校准模式：测试开始前，先选择采用开路校准模式或是端接校准模式进行校准；S3.选择校准通道：首先选择其中一个通道进行校准，并保存校准过程中得到的校准参数，完成当前通道的校准：S4.选择另一个通道，完成对另一个通道的校准；S5.开始测试：选定使用开路校准模式或是端接校准模式下的参数，在相应的模式下对被测件进行测试，得到测量波形，计算出被测件特性阻抗。本发明解决了多重反射导致的数据异常问题，并通过等效计算得到更准确的入射电压幅度值，能够大幅降低测量误差，提高时域反射计的测量精度。
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公开(公告)号：CN111352059B
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010249939.7
申请日：2020-04-01
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种时域反射计的特性阻抗时域分段校准方法，先将被测特性阻抗值按照反射系数ρ来分段，以反射系数确定几个分界点，以分界点反射系数对应的阻抗值划分被测阻抗范围，然后选择范围内一个典型阻抗值作为校准的参考阻抗，TDR仪器对每个典型参考阻抗值逐一执行特性阻抗校准，存储为不同组别校准参数，不同的阻抗值范围，TDR校准和测量区域的选定范围不同，测量时以50Ω的校准参数作为默认基准进行计算，完成测量，如果测得反射系数不在‑0.5
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公开(公告)号：CN111352059A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN202010249939.7
申请日：2020-04-01
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种时域反射计的特性阻抗时域分段校准方法，先将被测特性阻抗值按照反射系数ρ来分段，以反射系数确定几个分界点，以分界点反射系数对应的阻抗值划分被测阻抗范围，然后选择范围内一个典型阻抗值作为校准的参考阻抗，TDR仪器对每个典型参考阻抗值逐一执行特性阻抗校准，存储为不同组别校准参数，不同的阻抗值范围，TDR校准和测量区域的选定范围不同，测量时以50Ω的校准参数作为默认基准进行计算，完成测量，如果测得反射系数不在-0.5
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公开(公告)号：CN111352060B
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN202010249952.2
申请日：2020-04-01
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法，包括以下步骤：S1.初始化时域反射计，使其能够测量并显示出校准件的全部长度；S2.选择校准模式：测试开始前，先选择采用开路校准模式或是端接校准模式进行校准；S3.选择校准通道：首先选择其中一个通道进行校准，并保存校准过程中得到的校准参数，完成当前通道的校准：S4.选择另一个通道，完成对另一个通道的校准；S5.开始测试：选定使用开路校准模式或是端接校准模式下的参数，在相应的模式下对被测件进行测试，得到测量波形，计算出被测件特性阻抗。本发明解决了多重反射导致的数据异常问题，并通过等效计算得到更准确的入射电压幅度值，能够大幅降低测量误差，提高时域反射计的测量精度。
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