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公开(公告)号：CN106844824B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201611050574.5
申请日：2016-11-22
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/20 , G06F119/04 , G01M7/02
Abstract: 本发明公开了一种基于加速振动条件的射频晶振剩余寿命估计方法，通过同时同地同条件对同类晶振产品进行失效实验，根据它们的相位噪声谱图像的分析确定其寿命状态，从一类历史样本的共同规律中确定此类产品的退化规律，建立数学模型，最后应用到现场样本进行验证，这样在减小了杂散和谐波的影响下，能够准确反映射频晶振寿命的平均情况。
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公开(公告)号：CN105277826B
公开(公告)日：2019-01-25
申请号：CN201510695346.2
申请日：2015-10-23
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种阵列天线故障诊断系统，包括M个测试天线、M通道同步接收机和故障诊断装置，故障诊断装置通过波控系统对阵列天线进行分区，对每个分区进行无故障测试和故障模拟测试，使分区波束依次对准M个测试天线；测试天线每次得到M个幅度值，通过M通道同步接收机上传至故障诊断装置，故障诊断装置将其构成标准测试向量后保存至故障数据库；在进行测试时，得到所测分区的测试向量，如果与数据库中所测分区对应的无故障标准测试向量的相似度小于阈值则所测分区无故障，否则在所有故障对应的标准测试向量中搜索与本次测试向量最接近的标准测试向量，其对应的故障即为所测分区的故障。本发明可以快速、准确地对外场的大型阵列天线进行故障诊断。
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公开(公告)号：CN105184023A
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：CN201510686613.X
申请日：2015-10-20
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种射频电路性能参数退化仿真方法，首先测量被测射频电路温度每升高ΔT所对应的功率P及S参数，再计算被测射频电路温度每升高ΔT所需总能量，以及被测射频电路在不同温度条件下的稳定性系数和性能退化时间，再将不同温度条件下的性能退化时间求和，得到被测射频电路的老化时间，最后将不同温度条件下的S参数及对应的稳定性系数分别输入到ADS2012仿真软件，经过仿真后得到被测射频电路的性能退化趋势。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105184023B
公开(公告)日：2018-03-09
申请号：CN201510686613.X
申请日：2015-10-20
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种射频电路性能参数退化仿真方法，首先测量被测射频电路温度每升高ΔT所对应的功率P及S参数，再计算被测射频电路温度每升高ΔT所需总能量，以及被测射频电路在不同温度条件下的稳定性系数和性能退化时间，再将不同温度条件下的性能退化时间求和，得到被测射频电路的老化时间，最后将不同温度条件下的S参数及对应的稳定性系数分别输入到ADS2012仿真软件，经过仿真后得到被测射频电路的性能退化趋势。
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公开(公告)号：CN105277826A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510695346.2
申请日：2015-10-23
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种阵列天线故障诊断系统，包括M个测试天线、M通道同步接收机和故障诊断装置，故障诊断装置通过波控系统对阵列天线进行分区，对每个分区进行无故障测试和故障模拟测试，使分区波束依次对准M个测试天线；测试天线每次得到M个幅度值，通过M通道同步接收机上传至故障诊断装置，故障诊断装置将其构成标准测试向量后保存至故障数据库；在进行测试时，得到所测分区的测试向量，如果与数据库中所测分区对应的无故障标准测试向量的相似度小于阈值则所测分区无故障，否则在所有故障对应的标准测试向量中搜索与本次测试向量最接近的标准测试向量，其对应的故障即为所测分区的故障。本发明可以快速、准确地对外场的大型阵列天线进行故障诊断。
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公开(公告)号：CN105158621B
公开(公告)日：2018-03-09
申请号：CN201510697856.3
申请日：2015-10-23
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于分区的阵列天线快速故障诊断方法，将阵列天线划分为多个分区，每个分区包含若干辐射单元，对于每个分区，通过雷达控制系统控制关闭分区内的不同辐射单元来模拟各个故障，对无故障和每个模拟故障进行快拍测试得到故障特征向量，将所有分区的故障及其对应的特征向量一起构建故障数据库，阵列天线需要测试诊断时，分别对每个分区进行一次快拍测试，获得该分区的测试向量，先与该分区的无故障特征向量计算相似度，如果相似度大于预设阈值则该分区没有故障，否则在该分区故障特征向量中搜索与测试向量最相似的故障特征向量，对应故障即为当前分区的故障。本发明结合中场区多个测试天线进行快拍测试进行故障诊断，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN106844824A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201611050574.5
申请日：2016-11-22
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于加速振动条件的射频晶振剩余寿命估计方法，通过同时同地同条件对同类晶振产品进行失效实验，根据它们的相位噪声谱图像的分析确定其寿命状态，从一类历史样本的共同规律中确定此类产品的退化规律，建立数学模型，最后应用到现场样本进行验证，这样在减小了杂散和谐波的影响下，能够准确反映射频晶振寿命的平均情况。
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公开(公告)号：CN105158621A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510697856.3
申请日：2015-10-23
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于分区的阵列天线快速故障诊断方法，将阵列天线划分为多个分区，每个分区包含若干辐射单元，对于每个分区，通过雷达控制系统控制关闭分区内的不同辐射单元来模拟各个故障，对无故障和每个模拟故障进行快拍测试得到故障特征向量，将所有分区的故障及其对应的特征向量一起构建故障数据库，阵列天线需要测试诊断时，分别对每个分区进行一次快拍测试，获得该分区的测试向量，先与该分区的无故障特征向量计算相似度，如果相似度大于预设阈值则该分区没有故障，否则在该分区故障特征向量中搜索与测试向量最相似的故障特征向量，对应故障即为当前分区的故障。本发明结合中场区多个测试天线进行快拍测试进行故障诊断，提高测试效率。
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