公开(公告)号：CN108375748A

公开(公告)日：2018-08-07

申请号：CN201810090043.1

申请日：2018-01-30

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 陈凯 ,  姜籍翔 ,  程玉华 ,  苟轩 ,  张树 ,  吴卓倚

IPC: G01R35/00

Abstract: 本发明公开了一种基于正弦激励和DFT变换的非线性校准方法，先采集原始信号序列{xk}，再计算原始信号序列{xk}的初始时刻相位 根据初始时刻相位得到原始信号的离散表达式，进而确定校准区间，在校准区间内，建立采样值与理论值的映射关系，根据映射关系对这些离散点进行样条插值处理，得到一条光滑曲线G(x”)，最后在校准区间内利用G(x”)中从而完成所有采样点的校准。

公开(公告)号：CN102735152A

公开(公告)日：2012-10-17

申请号：CN201210184345.8

申请日：2012-06-06

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 程玉华 ,  邓龙江 ,  姜籍翔 ,  谢建良 ,  郑晓刚

IPC: G01B7/06

Abstract: 本发明公开了一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法，通过采用函数模型，即拟合曲线y=a/(K-x)+b来对吸波涂层的厚度进行计算，测量出吸波涂层的厚度y。a、K和b为需要确定的系数，校准的目的就是确定这三个系数。对于确定厚度范围的吸波涂层，并在一定硬件条件下，由这三个参数即可比较准确地计算涂层厚度，同时，采用本发明的校准方法得到的这三个参数很好的反映了电压值x和涂层厚度y的关系。因此，吸波涂层测厚仪的测量精度。

公开(公告)号：CN108375748B

公开(公告)日：2019-08-20

申请号：CN201810090043.1

申请日：2018-01-30

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 陈凯 ,  姜籍翔 ,  程玉华 ,  苟轩 ,  张树 ,  吴卓倚

IPC: G01R35/00

Abstract: 本发明公开了一种基于正弦激励和DFT变换的非线性校准方法，先采集原始信号序列{xk}，再计算原始信号序列{xk}的初始时刻相位根据初始时刻相位得到原始信号的离散表达式，进而确定校准区间，在校准区间内，建立采样值与理论值的映射关系，根据映射关系对这些离散点进行样条插值处理，得到一条光滑曲线G(x”)，最后在校准区间内利用G(x”)中从而完成所有采样点的校准。

公开(公告)号：CN102735152B

公开(公告)日：2014-08-27

申请号：CN201210184345.8

申请日：2012-06-06

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 程玉华 ,  邓龙江 ,  姜籍翔 ,  谢建良 ,  郑晓刚 ,  李侃竹 ,  窦中杰

IPC: G01B7/06

Abstract: 本发明公开了一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法，通过采用函数模型，即拟合曲线y=a/(K-x)+b来对吸波涂层的厚度进行计算，测量出吸波涂层的厚度y。a、K和b为需要确定的系数，校准的目的就是确定这三个系数。对于确定厚度范围的吸波涂层，并在一定硬件条件下，由这三个参数即可比较准确地计算涂层厚度，同时，采用本发明的校准方法得到的这三个参数很好的反映了电压值x和涂层厚度y的关系。因此，吸波涂层测厚仪的测量精度。