公开(公告)号：CN111914498A

公开(公告)日：2020-11-10

申请号：CN202010375645.9

申请日：2020-05-07

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 王忆文 ,  任睿捷 ,  何旭东 ,  李南希

IPC: G06F30/32

Abstract: 本发明属于集成电路领域，具体设计一种基于与MCU交互的存储式芯片时分复用的ADIO的电路结构。本发明公开了一种基于MCU外接存储芯片的时分复用总线硬件电路结构，包括：16位数据地址总线；用于传输芯片与MCU交互的数据地址信息，译码模块；用于接收MCU传输至芯片内部的控制信号以及指令，同时产生内部控制使能信号，主存储模块；用于存放MCU运算过程中产生并需要存储的数据，从存储模块；用于存放MCU所使用过程中所需的程序，便于MCU读取，数据保护模块；用于输出存储模块处于编程状态下的状态判断位。本发明能够提供一种简化了的MCU外接存储芯片的总线设计思路，使用时分复用的方法减少了芯片的管脚，缩小了芯片面积，并具备一定的可扩展性，同时在许多MCU外接存储芯片中都具有可重用性的特点。

公开(公告)号：CN111913841A

公开(公告)日：2020-11-10

申请号：CN202010392586.6

申请日：2020-05-11

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 王忆文 ,  何旭东 ,  何相龙 ,  任睿捷 ,  李南希

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/26

Abstract: 本发明属于芯片测试技术领域，具体为一种低成本的芯片功能测试平台。解决了芯片测试引脚数量多、测试速度慢、测试时间长、测试成本高、测试设备要求高等问题。使用ARM芯片和FPGA芯片相结合搭建芯片功能测试平台，本平台的核心思想是通过内部的功能测试模块(FTM,Function Test Model)把ARM处理器无时序的指令转换为符合待测芯片时序要求的控制信号，并完成数据传输和测试。本平台对芯片的功能测试流程简单，只需要在PC上输入对应的测试操作命令，平台就自动执行测试程序，同时能够快速在PC上看到测试结果。该平台能够实现芯片的功能测试百分百覆盖，缩短了用户测试芯片的时间和芯片开发的周期，节约了成本。