公开(公告)号：CN114269881A

公开(公告)日：2022-04-01

申请号：CN202080058677.4

申请日：2020-08-14

Applicant: 电化株式会社

Inventor： 野见山智宏 ,  小林学 ,  宫崎胜 ,  奥园达也

IPC: C09K11/64 ,  H01L33/50

Abstract: 本发明涉及一种固溶有铕的β型塞隆荧光体粒子。将通过对上述荧光体粒子的截面利用能量分散型X射线分析法进行分析而求出的上述荧光体粒子的表面部分的Si原子的元素浓度设为Ps[at％]，将通过利用相同方法进行分析而求出的上述荧光体粒子的中心附近的Si原子的元素浓度设为Pc[at％]，此时，Pc－Ps的值为3at％以上。

公开(公告)号：CN113692437B

公开(公告)日：2022-08-05

申请号：CN202080025133.8

申请日：2020-03-24

Applicant: 电化株式会社

Inventor： 野见山智宏 ,  武田雄介 ,  高村麻里奈 ,  奥园达也 ,  宫崎胜 ,  渡边真太郎

IPC: C09K11/08 ,  C09K11/64 ,  H01L33/50

Abstract: 一种含有Eu的α型塞隆荧光体粒子。在该α型塞隆荧光体粒子表面形成有至少一个狭缝。该α型塞隆荧光体粒子优选经过原料的混合工序、加热工序、粉碎工序和酸处理工序来制造。

公开(公告)号：CN113710771B

公开(公告)日：2022-07-12

申请号：CN202080025231.1

申请日：2020-03-24

Applicant: 电化株式会社

Inventor： 野见山智宏 ,  武田雄介 ,  高村麻里奈 ,  奥园达也 ,  宫崎胜 ,  渡边真太郎

IPC: C09K11/08 ,  H01L33/50 ,  C09K11/64

Abstract: 一种含有Eu的α型塞隆荧光体粒子。在该α型塞隆荧光体粒子的表面形成有至少一个微小凹部。该α型塞隆荧光体粒子优选经过原料的混合工序、加热工序、粉碎工序和酸处理工序来制造。

公开(公告)号：CN113646406A

公开(公告)日：2021-11-12

申请号：CN202080025108.X

申请日：2020-03-24

Applicant: 电化株式会社

Inventor： 野见山智宏 ,  武田雄介 ,  山浦太阳 ,  奥园达也 ,  宫崎胜 ,  渡边真太郎

IPC: C09K11/64 ,  H01L33/50 ,  C09K11/08

Abstract: 本发明的一个方案是一种由含有Eu的α型塞隆荧光体粒子构成的荧光体粉末。对于该荧光体粉末，将在大气气氛下在600℃保持1小时后的内量子效率设为P1、将在大气气氛下在700℃保持1小时后的内量子效率设为P2时，P1为70％以上，并且(P1－P2)/P1×100为2.8％以下。

公开(公告)号：CN114269883A

公开(公告)日：2022-04-01

申请号：CN202080058026.5

申请日：2020-08-14

Applicant: 电化株式会社

Inventor： 野见山智宏 ,  小林学 ,  宫崎胜 ,  奥园达也

IPC: C09K11/80 ,  H01L33/50

Abstract: 本发明涉及一种固溶有铕的β型塞隆荧光体，其中，将根据X射线光电子分光测定得到的、从荧光体的表面起8nm的深度的铝元素的比率设为P8[at％]，将从荧光体的表面起80nm的深度的铝元素的比率设为P80[at％]，此时，P8/P80≤0.9。另外，本发明涉及一种发光装置，包含该β型塞隆荧光体。

公开(公告)号：CN113646408A

公开(公告)日：2021-11-12

申请号：CN202080025140.8

申请日：2020-03-24

Applicant: 电化株式会社

Inventor： 武田雄介 ,  野见山智宏 ,  高村麻里奈 ,  奥园达也 ,  宫崎胜 ,  渡边真太郎

IPC: C09K11/64 ,  H01L33/50 ,  H01L33/54

Abstract: 本发明的一个方案是一种由含有Eu的α型塞隆荧光体粒子构成的荧光体粉末。该荧光体粉末的利用激光衍射散射法测定的体积基准的中值粒径(D50)为10μm～20μm，对波长600nm的光的扩散反射率为93％～99％。

公开(公告)号：CN114269883B

公开(公告)日：2023-11-21

申请号：CN202080058026.5

申请日：2020-08-14

Applicant: 电化株式会社

Inventor： 野见山智宏 ,  小林学 ,  宫崎胜 ,  奥园达也

IPC: C09K11/80 ,  H01L33/50

公开(公告)号：CN113646406B

公开(公告)日：2022-10-25

申请号：CN202080025108.X

申请日：2020-03-24

Applicant: 电化株式会社

Inventor： 野见山智宏 ,  武田雄介 ,  山浦太阳 ,  奥园达也 ,  宫崎胜 ,  渡边真太郎

IPC: C09K11/64 ,  H01L33/50 ,  C09K11/08

Abstract: 本发明的一个方案是一种由含有Eu的α型塞隆荧光体粒子构成的荧光体粉末。对于该荧光体粉末，将在大气气氛下在600℃保持1小时后的内量子效率设为P1、将在大气气氛下在700℃保持1小时后的内量子效率设为P2时，P1为70％以上，并且(P1－P2)/P1×100为2.8％以下。

公开(公告)号：CN113677776A

公开(公告)日：2021-11-19

申请号：CN202080025110.7

申请日：2020-03-24

Applicant: 电化株式会社

Inventor： 野见山智宏 ,  武田雄介 ,  奥园达也 ,  宫崎胜 ,  渡边真太郎

IPC: C09K11/64 ,  H01L33/50 ,  C09K11/08

Abstract: 本发明的一个方式是一种由含有Eu的α型塞隆荧光体粒子构成的荧光体粉末。该荧光体粉末的由下述提取离子分析求出的、荧光体粉末的氨离子的浓度CA为15ppm～100ppm。(提取离子分析A)将荧光体粉末0.5g加入到带盖的PTFE(聚四氟乙烯)制容器中的蒸馏水25ml，在60℃保持24小时后，使用离子色谱法求出通过过滤而除去了固体成分的水溶液中包含的氨离子的总质量MA。然后，通过用MA除以荧光体粉末的质量而求出CA。

公开(公告)号：CN118256236A

公开(公告)日：2024-06-28

申请号：CN202410234572.X

申请日：2020-08-14

Applicant: 电化株式会社

Inventor： 野见山智宏 ,  小林学 ,  宫崎胜 ,  奥园达也

IPC: C09K11/64 ,  H01L33/50

Abstract: 本发明涉及一种固溶有铕的β型塞隆荧光体粒子。将通过对上述荧光体粒子的截面利用能量分散型X射线分析法进行分析而求出的上述荧光体粒子的表面部分的Si原子的元素浓度设为Ps[at％]，将通过利用相同方法进行分析而求出的上述荧光体粒子的中心附近的Si原子的元素浓度设为Pc[at％]，此时，Pc－Ps的值为3at％以上。